[发明专利]一种硅烯的制备方法在审
申请号: | 201510793100.9 | 申请日: | 2015-11-18 |
公开(公告)号: | CN105439148A | 公开(公告)日: | 2016-03-30 |
发明(设计)人: | 李慧;石婷;王泽松;付德君 | 申请(专利权)人: | 宜昌后皇真空科技有限公司 |
主分类号: | C01B33/021 | 分类号: | C01B33/021 |
代理公司: | 宜昌市三峡专利事务所 42103 | 代理人: | 蒋悦 |
地址: | 443500 *** | 国省代码: | 湖北;42 |
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摘要: | 本发明提供了一种制备硅烯的方法。具体是将硅块加工成硅靶,硅靶的形状为凹锥形;将上述硅靶安装在铯溅射负离子源的溅射靶上,用铯离子溅射硅靶,溅射产生的Si2-团簇负离子束由吸极引出孔引出,Si2-团簇负离子在经吸极电压加速后经过扫描电场均匀沉积在Ag(111)衬底上;样品在真空腔内,Ar+离子对表面进行溅射,然后在超高真空下对样品进行退火处理,即可完成硅烯的制备。本发明利用低能团簇负离子束单个原子的低能量、剂量精确可控的优势,可以实现直接沉积法制备硅烯。 | ||
搜索关键词: | 一种 制备 方法 | ||
【主权项】:
一种硅烯的制备方法,其特征在于,包括如下步骤:硅靶的制备:(1)将纯度为99.9%的硅块经车间加工成硅靶,硅靶的形状为凹锥形;引出硅团簇离子束:(2)将上述硅靶安装在铯溅射负离子源的溅射靶上,用铯离子溅射硅靶,溅射产生的Si2‑团簇负离子束由吸极引出孔引出;团簇离子注入:(3)将单晶Ag(111)衬底放置在沉积靶室中的样品台上,Si2‑团簇负离子在经吸极电压加速后经过扫描电场均匀沉积在Ag(111)衬底上;(4)溅射及退火处理:将注入完成的样品放至扫描隧道显微镜下,在控制2×10‑3‑5×10‑3的真空腔内,用600 eV的Ar+离子对表面进行溅射,以清除表面污染物,然后在8×10‑9 ‑2×10‑8 Pa的超高真空下对样品进行退火处理,退火温度为400‑500℃,即可完成硅烯的制备。
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