[发明专利]一种TOF技术中基于波形匹配的测距方法有效
| 申请号： | 201510800869.9 | 申请日： | 2015-11-19 |
| 公开（公告）号： | CN105467383B | 公开（公告）日： | 2017-10-10 |
| 发明（设计）人： | 巴若珉;辛阔;刘涛;余明慧 | 申请（专利权）人： | 上海交通大学 |
| 主分类号： | G01S13/74 | 分类号： | G01S13/74 |
| 代理公司： | 上海科盛知识产权代理有限公司31225 | 代理人： | 翁惠瑜 |
| 地址： | 200240 *** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种TOF技术中基于波形匹配的测距方法，包括以下步骤A、采用TOF技术进行重复测量，采集多个TOF周期数；B、对所采集的TOF周期数进行处理，获得测量距离，具体为B1)获取以TOF周期数为横坐标、此次测量中采集得某一TOF周期数的次数为纵坐标的波形图；B2)获得所述波形图的曲线波形参数值和布尔型参数值；B3)搜索预先存储的曲线波形参数距离对应表，获取与步骤B2)中的曲线波形参数值对应的预测距离，带入最优权重配比，对所有预测距离进行加权求和得到初步测量距离；B4)根据步骤B2)中的布尔型参数值对初步测量距离进行纠偏，得到最终的测量距离。与现有技术相比，本发明具有精度高、节约存储空间、数据处理复杂度低等优点。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 tof 技术 基于 波形 匹配 测距 方法 | ||
【主权项】：
一种TOF技术中基于波形匹配的测距方法，其特征在于，包括以下步骤：A、采用TOF技术进行重复测量，采集多个TOF周期数；B、对所采集的TOF周期数进行处理，获得测量距离，具体为：B1)获取以TOF周期数为横坐标、此次测量中采集得某一TOF周期数的次数为纵坐标的波形图；B2)获得所述波形图的曲线波形参数值和布尔型参数值；B3)搜索预先存储的曲线波形参数距离对应表，获取与步骤B2)中的曲线波形参数值对应的预测距离，对所有预测距离进行加权求和得到初步测量距离；B4)根据步骤B2)中的布尔型参数值对初步测量距离进行纠偏，得到最终的测量距离。
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