[发明专利]一种下转换荧光强度比测温技术的修正方法

摘要

一种下转换荧光强度比测温技术的修正方法，本发明涉及一种下转换荧光强度比测温技术的修正方法。本发明是要解决现有测温技术测温结果不准确的问题，方法为：激发源发出的激发光经过凸透镜汇聚照射到感温材料上，感温材料所发射的下转换荧光通过凸透镜汇聚入射到光谱仪中，光谱仪连接存储示波器和计算机进行数据处理，给出修正曲线，即完成。本发明的修正方法消除了现有下转换荧光强度比与玻尔兹曼分布律的偏差，在保持了荧光强度比方法抗干扰能力强、稳定性好、灵敏度高的优点的同时，提高了其测温的准确度。本发明应用于稀土荧光测温领域。

主权项

一种下转换荧光强度比测温技术的修正方法，其特征在于它是按以下步骤进行的：一、激发源发出的脉冲激发光经过凸透镜汇聚照射到稀土离子掺杂的感温材料上，稀土离子掺杂的感温材料所发射的下转换荧光通过另一凸透镜汇聚入射到计算机控制的光栅光谱仪中，其中计算机控制的光栅光谱仪采集的荧光光谱具有两个荧光发射峰，分别为稀土离子两个相邻且存在热耦合关系的能级到下能级辐射跃迁所产生的荧光发射峰，上能级A发射的荧光波长短于下能级B发射的波长；二、将计算机控制的光栅光谱仪连接存储示波器，存储示波器进行不同温度下荧光衰变曲线的测量，得到不同温度下的下能级B荧光衰变曲线和上能级A荧光衰变曲线；计算机进行数据处理，给出修正系数，修正后的荧光强度比为FIR_c＝FIR·C₂/(C₁+C₂)，得到修正曲线；所述的上能级A为稀土离子两个相邻且存在热耦合关系的能级中的上能级；下能级B为稀土离子两个相邻且存在热耦合关系的能级中的下能级。