[发明专利]一种带电发射衰变的探测方法与装置在审
| 申请号： | 201510807910.5 | 申请日： | 2015-11-19 |
| 公开（公告）号： | CN106405611A | 公开（公告）日： | 2017-02-15 |
| 发明（设计）人： | 谢庆国;邓贞宙 | 申请（专利权）人： | 南京瑞派宁信息科技有限公司 |
| 主分类号： | G01T1/00 | 分类号： | G01T1/00;G01J11/00 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 211800 江苏省南京*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 一种带电发射衰变（Charged Particles Emitting Decay）的探测方法，其包括步骤获得带电微粒发射切伦科夫效应光子的脉冲数据集（时间、位置、波长、脉冲形状中的一种或者几种）；获得衰变发出的其他粒子的脉冲数据集（时间、位置、波长、脉冲形状的一种或者几种）；计算每个时间段样本的联合似然概率函数；通过计算该时间段的联合多属性似然函数判断当前接收到的数据片段否是来自于一个带电微粒发射事件。一种带电发射衰变的探测装置，包括切伦科夫探测器模块、其他粒子数据探测模块、联合似然概率计算模块、衰变事件属性甄选模块。通过采用本发明的带电发射衰变事件的探测方法与装置，能有效提高探测的带电发射衰变事件的装置空间分辨率、能量分辨率、时间分辨率、装置灵敏度和成像信噪比，特别适合于示踪剂在高能物理和医学成像上的应用。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 带电 发射 衰变 探测 方法 装置 | ||
【主权项】：
一种带电发射衰变的探测方法，其特征在于：包括步骤：S1：获得带电微粒发射切伦科夫效应光子的脉冲数据集（时间、位置、波长、脉冲形状中的一种或者几种）；S2: 获得衰变发出的其他粒子的脉冲数据集（时间、位置、波长、脉冲形状的一种或者几种）；S3：计算每个时间段样本的联合似然概率函数；S4：通过计算该时间段的联合多属性似然函数判断当前接收到的数据片段否是来自于一个带电微粒发射事件。
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