[发明专利]一种航天器用数字软IP核评测方法

摘要

一种航天器用数字软IP核评测方法，充分考虑了航天器在空间环境下对IP核高可靠性的要求，以功能仿真的覆盖率分析、代码仿真覆盖率分析、时序分析、后仿真、功耗分析、抗辐射容错能力分析作为数字软IP核性能的评测手段，以保证航天器用数字软IP核的功能、性能、可靠性与复用性。本发明评测方法解决了空间辐射环境和航天器高可靠应用条件下的软IP核功能及性能评测难题，具有操作简便、自动化程度高、评测效率高等特点，减少了评测的操作环节，提高了评测的可操作性。

主权项

一种航天器用数字软IP核评测方法，其特征在于包括如下步骤：(1)将软IP核的代码导入Testbench验证平台，同时在Testbench验证平台上构建覆盖所述软IP核所有功能的测试向量；(2)将所述测试向量作为输入，由Testbench验证平台执行寄存器传输级仿真，得到实际仿真结果，同时从Testbench验证平台获取各测试向量对应的理论仿真结果，将实际仿真结果与理论仿真结果进行比对，当两者一致时判定软IP核的功能正确，当两者不一致时判定软IP核的功能不正确，然后进入下一步；(3)统计步骤(2)中获取的功能正确的功能总数并计算其与软IP核的所有功能个数的比值，如果比值为1则判定软IP核功能验证充分，否则判定软IP核功能验证不充分，然后进入下一步；(4)统计步骤(2)中软IP核所包含代码的执行数量，并将其与软IP核的所有代码总数的比值，如果比值为1则判定软IP核代码验证充分，否则判定软IP核代码验证不充分，然后进入下一步；(5)设定软IP核的时钟周期、软IP核输入和输出延迟参数、软IP核驱动和负载参数，利用PrimeTime时序分析工具对软IP核的代码进行时序分析，在Best、Typical、Worst三种工艺条件下，针对正常工作模式、扫描模式和复位模式，进行九次不同组合的时序分析，对软IP核中最长时序路径时间余量、接口时序时间余量、时钟域的保持时间余量进行检查，如果检查结果中存在时间余量为负值的情况，则判定软IP核时序设计错误，否则判定软IP核时序设计正确，然后进入下一步；(6)在考虑Best、Typical、Worst三种不同工艺条件的工艺角和片上误差条件下，判定软IP核的最大扇出、最大转换时间、最大噪声是否符合流片厂的工艺SignOff标准，如不符合流片厂的工艺SignOff时序标准，则判定软IP核时序设计错误，否则判定软IP核时序设计正确，然后进入下一步；(7)统计步骤(5)中每次时序分析过程中已经测试过的时序路径，并求取其与软IP核代码中所涉及的时序路径总数的比值，如果比值为1则判定软IP核时序分析验证充分，否则判定软IP核时序分析验证不充分，然后进入下一步；(8)通过Calibre版图寄生参数提取工具提取全版图寄生电路参数，将所述测试向量作为输入，由Testbench验证平台执行门级仿真验证，同时从Testbench验证平台获取各测试向量对应的理论仿真结果，将实际仿真结果与理论仿真结果进行比对，当两者一致时判定软IP核的功能正确，当两者不一致时判定软IP核的功能不正确，然后进入下一步；(9)通过RedHawk或PrimePower功耗分析工具对软IP核进行动态和静态两种状态下的功耗分析，其中动态功耗使用符合实际应用情况的测试向量进行测量，计算峰值功耗值作为动态功耗评测结果，静态功耗采用软IP核附带的RTL级功耗模型或电路级功耗模型进行测量；若功耗分析结果不满足IP核手册标称值，则判定IP核功耗超标，否则判定软IP核功耗满足要求，然后进入下一步；(10)检查软IP核代码是否采用了冗余容错措施，如未采用任何冗余容错措施，则判定软IP核不具备抗辐射容错能力。