[发明专利]确定液晶态接枝高分子的相变行为相关参数的方法和设备

摘要

本发明提供了确定液晶态接枝高分子的相变行为相关参数的方法和设备，所述方法包括：(1)确定液晶态接枝高分子的初始力场函数；(2)使液晶态接枝高分子在三维空间内发生连续构象变化至液晶态接枝高分子呈热力学平衡状态；(3)确定液晶态接枝高分子的密度分布函数；(4)确定液晶态接枝高分子的当前力场函数；(5)确定当前力场函数的自洽收敛性；(6)确定液晶态接枝高分子的相变相关参数。该方法可以高效地生成大量的统计抽样样本，直接对高分子构象进行统计采样，获得微观结构信息，快速地将液晶态接枝高分子演化到热力学平衡态，以及较为精确地计算液晶态接枝高分子的热力学量和序参量，并获取液晶态接枝高分子的相变相关参数。

主权项

一种确定液晶态接枝高分子的相变行为相关参数的方法，其特征在于，包括：(1)确定所述液晶态接枝高分子的初始力场函数；(2)使所述液晶态接枝高分子在三维空间内发生连续构象变化至所述液晶态接枝高分子呈热力学平衡状态；(3)对所述连续构象变化过程中所述液晶态接枝高分子的构象进行统计，得到所述液晶态接枝高分子的密度分布函数；(4)基于步骤(3)中得到的密度分布函数，确定所述液晶态接枝高分子的当前力场函数；(5)确定所述当前力场函数的自洽收敛性；(6)如果所述当前力场函数自洽收敛，对所述液晶态接枝高分子进行拉伸或压缩，基于步骤(3)中得到的密度分布函数，确定所述液晶态接枝高分子的相变相关参数；如果所述当前力场函数非自洽收敛，以所述当前力场函数作为所述初始力场函数，重复所述步骤(2)至(6)，至所述当前力场函数自洽收敛。