[发明专利]一种定量评价纳米粒子悬浮液稳定性的装置在审

专利信息
申请号: 201510814445.8 申请日: 2015-11-23
公开(公告)号: CN105510200A 公开(公告)日: 2016-04-20
发明(设计)人: 马婧;南茜;赵敬;刘建强;任炜桦 申请(专利权)人: 太原理工大学
主分类号: G01N15/04 分类号: G01N15/04;G01N21/31
代理公司: 太原市科瑞达专利代理有限公司 14101 代理人: 李富元
地址: 030024 山西*** 国省代码: 山西;14
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明涉及纳米粒子领域,具体是一种定量评价纳米粒子悬浮液稳定性的装置。包括控制面板、测量池、控制芯片、显示装置、超声波发生装置、与测量池连接的吸光度测量装置、与测量池通过流量阀连接的溶剂池,当需要评价的纳米粒子悬浮液滴入测量池后,吸光度测量装置自动进行首次吸光度测试,并通过显示装置显示当前吸光度,本发明克服了传统紫外可见分光光度计复杂繁琐的操作,也避免了DLS测量结果的不准确性,提高了测试效率,能定量、快速、准确地描述纳米粒子悬浮液的溶解度、稳定性和分散性。
搜索关键词: 一种 定量 评价 纳米 粒子 悬浮液 稳定性 装置
【主权项】:
一种定量评价纳米粒子悬浮液稳定性的装置,其特征在于:包括控制面板、测量池、控制芯片、显示装置、超声波发生装置、与测量池连接的吸光度测量装置、与测量池通过流量阀连接的溶剂池,当需要评价的纳米粒子悬浮液滴入测量池后,吸光度测量装置自动进行首次吸光度测试,并通过显示装置显示当前吸光度如果吸光度小于0.1Abs,在显示器上显示沉淀率为0,测量完备;如果吸光度在0.1‑0.7Abs,通过控制面板选择测量次数和间隔时间,控制芯片控制吸光度测量装置按照设置间隔时间和次数进行测量,依次记录为A1,A2,A3,…,Ai,Ai为第i次测量的吸光度,根据公式沉淀量计算沉淀量,并在以时间为横坐标,以沉淀量为纵坐标的坐标系中,获得点(B1,0),(B2,t),…,(Bi,it‑t),拟合的斜率即沉淀率KSER,并通过显示装置显示出来,KSER越大,说明碳纳米管在该溶剂中沉降得越快,即碳纳米管在该溶剂中稳定性不好,i为自然数,t为时间间隔;如果吸光度大于0.7Abs,首先通过控制面板选择稀释倍数,控制芯片控制溶剂池中的溶剂对纳米粒子悬浮液进行稀释,并超声波发生装置搅拌均匀,使的稀释后的吸光度在0.1‑0.7Abs之间,记录稀释倍数N,然后通过控制面板选择测量次数和间隔时间,控制芯片控制吸光度测量装置按照设置间隔时间和次数进行测量,依次记录为A1,A2,A3,…,Ai,Ai为第i次测量的吸光度,根据公式沉淀量计算沉淀量,并在以时间为横坐标,以沉淀量为纵坐标的坐标系中,获得点(B1,0),(B2,t),…,(Bi,it‑t),拟合的斜率即沉淀率KSER,并通过显示装置显示实际沉淀率为NKSER,实际沉淀率越大,说明碳纳米管在该溶剂中沉降得越快,即碳纳米管在该溶剂中稳定性不好,i为自然数,t为时间间隔,N为正实数。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于太原理工大学,未经太原理工大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201510814445.8/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top