[发明专利]淬火钢脱碳层深度测量方法有效
| 申请号： | 201510819611.3 | 申请日： | 2015-11-20 |
| 公开（公告）号： | CN105387824B | 公开（公告）日： | 2018-07-10 |
| 发明（设计）人： | 孙宜强;韩斌;张萍;谭文;汪水泽;蔡珍;甘晓龙;张剑君;朱万军;许竹桃 | 申请（专利权）人： | 武汉钢铁有限公司 |
| 主分类号： | G01B15/02 | 分类号： | G01B15/02 |
| 代理公司： | 武汉开元知识产权代理有限公司 42104 | 代理人： | 胡镇西;张继巍 |
| 地址： | 430083 湖北省*** | 国省代码： | 湖北;42 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种淬火钢脱碳层深度测量方法，淬火钢试样经切割、镶嵌、磨制及抛光制成截面金相试样，用波长色散谱仪对截面金相试样进行碳元素特征X射线Kα线的测量，采用10～20kV的电压、100～1000nA的束流、10～20μm的测量步长及0.1～5s的测量时间，测量点从截面金相试样表层向基体延伸；背景信号与信号强度逐渐上升的转变节点处对应的试样边部距离为全脱碳层厚度，信号强度逐渐上升与信号强度渐趋平稳之间的转变节点处对应的边部距离为总脱碳层深度，总脱碳层与全脱碳层的差值为部分脱碳层深度。适用于无法采用金相法进行淬火钢脱碳层深度的测量，且比硬度法、化学法和光谱分析法测量碳含量方法的精确度高。 | ||
| 搜索关键词： | 淬火钢 脱碳层 测量 金相试样 全脱碳层 深度测量 总脱碳层 节点处 边部 光谱分析法 特征X射线 背景信号 波长色散 测量点 化学法 金相法 碳元素 硬度法 抛光 磨制 谱仪 束流 切割 镶嵌 延伸 | ||
【主权项】：
1.一种淬火钢脱碳层深度测量方法，其特征在于：所述测量方法包括如下步骤：1)淬火钢试样经切割、镶嵌、磨制及抛光制成截面金相试样，用波长色散谱仪对截面金相试样进行碳元素特征X射线Kα线的测量，采用10kV～15kV的电压、100nA～500nA的束流、10μm～20μm的测量步长及0.5s～2s的测量时间，测量点从截面金相试样表层向基体延伸；2)将碳元素特征X射线Kα线的测量结果制成射线强度与试样边部距离的曲线，所述曲线包括背景信号、信号强度逐渐上升和信号强度渐趋平稳三个阶段，背景信号与信号强度逐渐上升的转变节点处对应的试样边部距离为全脱碳层厚度，信号强度逐渐上升与信号强度渐趋平稳之间的转变节点处对应的边部距离为总脱碳层深度，总脱碳层与全脱碳层的差值为部分脱碳层深度。
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