[发明专利]状态估计装置、状态估计方法以及集成电路有效

专利信息
申请号: 201510820272.0 申请日: 2015-11-24
公开(公告)号: CN105701839B 公开(公告)日: 2019-04-12
发明(设计)人: 长谷川弘;生驹哲一 申请(专利权)人: 株式会社巨晶片;国立大学法人九州工业大学
主分类号: G06T7/277 分类号: G06T7/277
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 72001 代理人: 胡莉莉;陈岚
地址: 日本大阪*** 国省代码: 日本;JP
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 实现一种状态估计装置,关于跟踪对象的物体,获取多个观测数据,使用从获取到的多个观测数据分别得到的似然度和观测数据的可靠度,对物体的内部状态进行估计。第一观测获取部获取第一观测数据,第二观测获取部获取第二观测数据。第一似然度获取部基于第一观测数据来获取第一似然度。第二似然度获取部基于第二观测数据来获取第二似然度。似然度合成部基于第一似然度、第二似然度、示出第一观测数据的可靠度的第一可靠度数据以及示出第二观测数据的可靠度的第二可靠度数据,来获取合成似然度。后验概率分布获取部根据合成似然度和预测概率分布数据,来获取在当前时刻t的、作为观测对象的内部状态的概率分布的后验概率分布数据。
搜索关键词: 状态 估计 装置 方法 以及 集成电路
【主权项】:
1.一种状态估计装置,作为对观测对象的内部状态进行估计的状态估计装置,具备:第一观测获取部,以任意的时间间隔来获取从可观测的现象得到的第一观测数据;第二观测获取部,以任意的时间间隔来获取从可观测的现象得到的第二观测数据;先验概率分布预测部,将在前一时刻t‑1获取到的、作为观测对象的内部状态的概率分布的后验概率分布数据设为在当前时刻t的先验概率分布数据,对在该时刻t的先验概率数据进行预测处理,获取在当前时刻t的、作为观测对象的内部状态的概率分布的预测概率分布数据;第一似然度获取部,基于由所述先验概率分布预测部获取的所述预测概率分布数据和所述第一观测数据来获取第一似然度;第二似然度获取部,基于由所述先验概率分布预测部获取的所述预测概率分布数据和所述第二观测数据来获取第二似然度;似然度合成部,基于示出所述第一观测数据的可靠度的第一可靠度数据以及示出所述第二观测数据的可靠度的第二可靠度数据,来决定将所述第一似然度和所述第二似然度合成的比率,基于该比率将所述第一似然度和所述第二似然度合成,由此,获取合成似然度;以及后验概率分布获取部,根据所述合成似然度和所述预测概率分布数据,来获取在当前时刻t的、作为观测对象的内部状态的概率分布的后验概率分布数据。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于株式会社巨晶片;国立大学法人九州工业大学,未经株式会社巨晶片;国立大学法人九州工业大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201510820272.0/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top