[发明专利]曲面显示面板的测量方法、测量探头及测量系统有效
申请号: | 201510824736.5 | 申请日: | 2015-11-24 |
公开(公告)号: | CN105444992B | 公开(公告)日: | 2018-06-15 |
发明(设计)人: | 陈黎暄 | 申请(专利权)人: | 深圳市华星光电技术有限公司 |
主分类号: | G01M11/00 | 分类号: | G01M11/00;G01M11/02 |
代理公司: | 深圳市威世博知识产权代理事务所(普通合伙) 44280 | 代理人: | 钟子敏 |
地址: | 518006 广东*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 本发明公开了一种曲面显示面板的测量方法、测量探头及测量系统,所述测量方法包括:将测量探头置于所述曲面显示面板上方;所述测量探头获取进入其中的光的实际能量值;计算所述测量探头的入光端面在曲面显示面板上的投影面积;计算所述实际能量值与所述投影面积的比值;用所述比值乘积所述测量探头入光端面的实际面积得到进入测量探头的光的矫正能量值。通过上述方式,本发明能够提高测量的准确性。 1 | ||
搜索关键词: | 测量探头 曲面显示面板 测量 测量系统 实际能量 投影 入光端面 入光端 矫正 | ||
将测量探头置于所述曲面显示面板上方;
所述测量探头获取进入其中的光的实际能量值;
计算所述测量探头的入光端面在曲面显示面板上的投影面积;
计算所述实际能量值与所述投影面积的比值;
用所述比值乘积所述测量探头入光端面的实际面积得到进入测量探头的光的矫正能量值。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述测量探头的入光端面为圆形平面;所述计算所述测量探头在曲面显示面板上的投影面积的步骤包括:
根据如下计算公式计算所述投影面积:
S'≈πr2+πr4/8R2
其中,S’为所述投影面积,r为所述测量探头入光端面的半径,R为所述曲面显示面板的曲率半径。
3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述将测量探头置于所述曲面显示面板上方的步骤包括:将所述测量探头置于所述曲面显示面板的中心点上。4.一种曲面显示面板的测量探头,其特征在于,包括:获取单元,用于在将所述测量探头置于所述曲面显示面板上时获取进入测量探头的光的实际能量值;
第一计算单元,用于计算所述测量探头的入光端面在曲面显示面板上的投影面积;
第二计算单元,用于计算所述实际能量值与所述投影面积的比值;
第三计算单元,用于用所述比值乘积所述测量探头入光端面的实际面积得到进入测量探头的光的矫正能量值。
5.根据权利要求4所述的测量探头,其特征在于,所述测量探头的入光端面为圆形平面;所述第一计算单元用于根据如下计算公式计算所述投影面积:
S'≈πr2+πr4/8R2
其中,S’为所述投影面积,r为所述测量探头入光端面的半径,R为所述曲面显示面板的曲率半径。
6.根据权利要求5所述的测量探头,其特征在于,所述获取单元用于在将所述测量探头置于所述曲面显示面板的中心点上时获取进入测量探头的光的实际能量值。7.一种曲面显示面板的测量系统,其特征在于,包括控制设备、测量探头以及色彩分析设备;所述控制设备用于将测量探头置于曲面显示面板上方;
所述测量探头包括:
获取单元,用于在所述控制设备将测量探头置于曲面显示面板上方时获取进入测量探头的光的实际能量值;
第一计算单元,用于计算所述测量探头的入光端面在曲面显示面板上的投影面积;
第二计算单元,用于计算所述实际能量值与所述投影面积的比值;
第三计算单元,用于用所述比值乘积所述测量探头入光端面的实际面积得到进入测量探头的光的矫正能量值;
所述色彩分析设备用于根据所述矫正能量值检测所述曲面显示面板的参数值。
8.根据权利要求7所述的测量系统,其特征在于,所述测量探头的入光端面为圆形平面;所述第一计算单元用于根据如下计算公式计算所述投影面积:
S'≈πr2+πr4/8R2
其中,S’为所述投影面积,r为所述测量探头入光端面的半径,R为所述曲面显示面板的曲率半径。
9.根据权利要求8所述的测量系统,其特征在于,所述获取单元用于在将所述测量探头置于所述曲面显示面板的中心点上时获取进入测量探头的光的实际能量值。10.根据权利要求7所述的测量系统,其特征在于,所述测量探头的入光端面至少在一方向上呈弧形状。该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于深圳市华星光电技术有限公司,未经深圳市华星光电技术有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
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