[发明专利]一种脚型测量工具及利用该测量工具测量脚型的方法

摘要

本发明公开了一种脚型测量工具及利用该测量工具测量脚型的方法，包括测量平台、长度游标卡尺、高度游标卡尺和脚宽测量板，其中，所述脚宽测量板可拆卸地设置在测量平台上；所述长主尺设置在脚宽测量板的一侧；所述高度游标卡尺的高游标卡用于测量足高；所述脚趾线用于测量脚趾位置；该方法包括以下步骤：步骤S10，依据脚型测量线确定被测脚的脚型；依据确定的足高测量点h依次使用高游标卡测量足高；步骤S20，使用侧围软尺测量每个足高测量点h处的围度；步骤S30，任选三个脚趾，移动所述长游标尺测量所选脚趾的趾长；步骤S40，翻转所述脚宽测量板，测量另一被测脚的数据。本发明结构简单、时尚美观、操作方便、便于安装携带。

主权项

1.一种利用测量工具(1)测量脚型的方法，所述测量工具(1)包括测量平台(10)、长度游标卡尺(11)、高度游标卡尺(12)、弧形后跟托(13)、脚宽测量板(14)和脚围测量软尺(15)，所述脚宽测量板(14)两面分别设有若干个不同脚型的脚型测量线(142)、若干个脚趾线(16)，其特征在于，该方法包括以下步骤：步骤S10，依据脚型测量线(142)确定被测脚的脚型，将脚型号x输入控制系统；移动所述长度游标卡尺(11)的长游标尺(111)测量被测脚的脚长，将脚长参数l输入控制系统；沿脚面及位于所述脚宽测量板(14)对应面上的中轴线(141)确定至少三个足高测量点h，移动所述高度游标卡尺(12)，依据确定的足高测量点h依次使用所述高度游标卡尺(12)的高游标卡(123)测量足高，将足高参数g输入控制系统；步骤S20，使用所述脚围测量软尺(15)的侧围软尺(152)测量每个足高测量点h处的围度，将各围度参数w输入控制系统；找出每个足高测量点h在所述中轴线(141)上的投影点j，用所述长游标尺(111)找到各投影点j到足跟端点o的中点p，将各中点p的长度参数f输入控制系统，并用位于所述脚宽测量板(14)对应面上的刻度(143)测量各中点p处的脚宽，将脚宽参数k输入控制系统；步骤S30，任选三个脚趾，移动所述长游标尺(111)测量所选脚趾的趾长，将各趾长参数b输入控制系统,选取与所选的脚趾对应的脚趾线(16)，使用侧围软尺(152)测量足跟端点o至每个所选脚趾前端的距离，将距离参数m输入控制系统,并将脚趾线号n输入控制系统；步骤S40，翻转所述脚宽测量板(14)，测量另一被测脚的数据，最后，运行控制系统，获得左右脚的脚型数据。