[发明专利]一种多元醇还原技术制备p型氧化物薄膜材料的方法有效
申请号: | 201510835588.7 | 申请日: | 2015-11-25 |
公开(公告)号: | CN105742188B | 公开(公告)日: | 2020-10-20 |
发明(设计)人: | 单福凯;刘国侠;刘奥 | 申请(专利权)人: | 青岛大学 |
主分类号: | H01L21/34 | 分类号: | H01L21/34;H01L21/445 |
代理公司: | 北京汇捷知识产权代理事务所(普通合伙) 11531 | 代理人: | 李宏伟 |
地址: | 266000 *** | 国省代码: | 山东;37 |
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摘要: |
本发明公开了一种多元醇还原技术制备p型氧化物薄膜材料的方法,首先制备CuO和NiO前驱体溶液;清洗带有SiO |
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搜索关键词: | 一种 多元 还原 技术 制备 氧化物 薄膜 材料 方法 | ||
【主权项】:
一种多元醇还原技术制备p型氧化物薄膜材料的方法,其特征在于:(1)、CuO和NiO前驱体溶液的制备:将硝酸铜Cu(NO3)2.H2O和硝酸镍Ni(NO3)2.H2O分别溶于去离子水和甘油的混合溶液中,其中去离子水和甘油的体积比为1:1‑9:1,在20‑90℃下磁力搅拌1‑24h形成澄清透明的前驱体溶液,其中硝酸铜和硝酸镍浓度均为0.01‑0.5M;(2)、CuO和NiO薄膜样品的制备:采用等离子体清洗方法清洗带有SiO2薄膜层的衬底表面以增加衬底亲水性,其中SiO2薄膜层的厚度为100‑300nm。在清洗后的衬底上采用常规的旋涂技术旋涂前驱体溶液,先在400‑600转/分下匀胶4‑8s,再在3000‑6000转/分下匀胶15‑30s,旋涂次数为1‑3次,每次旋涂厚度5‑20nm;将旋涂后的SiO2薄膜层放到烤胶台上进行低温100‑200℃烘焙2‑4h,固化实验样品;再将烘焙后的样品在不同温度下退火1‑3h,实现金属氧化物致密化的过程,得到CuO和NiO沟道层薄膜;(3)、源、漏电极的制备:利用常规的真空热蒸发法利用不锈钢掩膜版在CuO和NiO沟道层薄膜上制备金属源、漏电极,即得到基于SiO2介电层的CuO和NiO薄膜晶体管;(4)、水性AlOx高k介电层的制备:将硝酸铝Al(NO3)3.H2O溶于去离子水中,在室温下搅拌1‑24h形成澄清透明的的AlOx前驱体溶液,其中AlOx前驱体溶液浓度为0.01‑0.5M;在等离子水清洗后的低阻硅衬底表面利用旋涂技术旋涂AlOx前驱体溶液,先在400‑600转/分下匀胶4‑8s,再在3000‑6000转/分下匀胶15‑30s,旋涂次数为1‑3次,每次旋涂厚度5‑10nm;将旋涂后的薄膜放到120‑170℃烤胶台进行固化处理后放入马弗炉中进行200‑500℃热退火处理1‑5h,即制备得到AlOx高k介电薄膜;(5)、基于AlOx高k介电层的p型TFT器件的制备:在AlOx高k介电薄膜表面利用旋涂技术制备NiO薄膜,其中硝酸镍前驱体溶液浓度为0.1M;先在500转/分下匀胶5s,再在5000转/分下匀胶20s,旋涂次数为1次,将旋涂后的样品放到烤胶台上200℃烘焙2h,固化实验样品;再将烘焙后的样品在300℃下退火2h,实现金属氧化物致密化的过程,得到NiO沟道层薄膜;利用真空热蒸发技术和不锈钢掩膜版在NiO沟道层薄膜上制备金属源、漏电极,即得到基于AlOx高k介电层的NiO薄膜晶体管。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
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