[发明专利]液晶屏显示驱动芯片测试方法在审
| 申请号： | 201510852182.X | 申请日： | 2015-12-01 |
| 公开（公告）号： | CN106814296A | 公开（公告）日： | 2017-06-09 |
| 发明（设计）人： | 刘春来;张东 | 申请（专利权）人： | 北京自动测试技术研究所 |
| 主分类号： | G01R31/26 | 分类号： | G01R31/26;G09G3/00 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 100088 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种液晶屏显示驱动芯片测试方法，包括芯片设计与可测试性设计、芯片加工、WAT测试、晶片测试、封装、封装测试和大规模流片生产；本发明的优点在于能够针对LCD Driver芯片高精度、高频、低振幅电压供给能力和海量的模拟输出引脚同时测试，提高了工作效率，降低了生产成本。 | ||
| 搜索关键词： | 液晶屏 显示 驱动 芯片 测试 方法 | ||
【主权项】：
液晶屏显示驱动芯片测试方法，其特征在于：包括以下步骤：(1)芯片设计与可测试性设计；(2)芯片加工；(3)WAT测试，如果不通过(NO)，则回到步骤(1)，如果通过(YES)，则进行下一步操作；(4)晶片测试(CP)，如果通过(YES)，则进行下一步操作；(5)封装；(6)封装测试，如果不通过(N0)，则回到步骤(1)，如果通过(YES)，则进行下一步操作；(7)大规模流片生产。
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