[发明专利]一种基于光干涉技术的叶片表面微结构快速测量方法

摘要

本发明公开了一种基于光干涉技术的叶片表面微结构快速测量方法，采用光学测量方法代替扫描电镜技术获取叶片表面的微观形态特征，并加以定量表征，解决了叶片表面特征无法直接快速获取、定量进行表征的问题，具有快速、简单易行、可以定量分析等优点，可应用于叶片表面微结构快速测量。

主权项

一种基于光干涉技术的植物叶片表面微结构快速测量方法，其特征在于包括以下步骤：步骤一，取样并固定：避开主脉切取叶片组织得叶片样本，叶片样本大小为2cm*2cm，并对叶片样本用浓度为4%的戊二醛固定液进行固定；所述的固定为将叶片放到溶液里面，保持其细胞器形态；步骤二，将所述叶片样本水平置于载玻片上；步骤三：将载有叶片样本的载玻片放置于载物台上，使载玻片底面紧贴载物台上表面；使叶片样本位于镜头正下方；步骤四：采用LED光源对所述叶片样本进行照明；步骤五：利用光学成像系统，对待测区的叶片样本表面进行成像，根据叶片样本的不同微结构特征，确定不同结构观察时的扫描距离；步骤六：确定叶片样本表面微结构的测量基准，获取测量系统测量能评价黄瓜叶片样本表面各微结构的主要参数，包括几何形态参数、高度参数、剖面参数、体积参数。