[发明专利]磁场测量方法以及磁场测量装置有效
| 申请号： | 201510854441.2 | 申请日： | 2015-11-30 |
| 公开（公告）号： | CN105640552B | 公开（公告）日： | 2020-10-16 |
| 发明（设计）人： | 长坂公夫;宫坂光敏 | 申请（专利权）人： | 精工爱普生株式会社 |
| 主分类号： | A61B5/05 | 分类号： | A61B5/05;G01R33/032 |
| 代理公司： | 北京康信知识产权代理有限责任公司 11240 | 代理人： | 田喜庆 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： |
本发明涉及磁场测量方法以及磁场测量装置。在光泵浦式的磁场测量中，能够测量探测光是单方向且多个方向的磁场。在磁场测量装置(1)中，光源(18)对气室(12)向Z轴方向照射兼具泵浦光和探测光的直线偏振光，磁场产生器(8)对气室(12)，分别在X、Y轴方向施加作为取n个固定值f |
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| 搜索关键词： | 磁场 测量方法 以及 测量 装置 | ||
【主权项】：
暂无信息
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