[发明专利]嵌入式系统外部易失性存储器高可靠性存储与诊断方法有效
申请号: | 201510864079.7 | 申请日: | 2015-11-27 |
公开(公告)号: | CN106815101B | 公开(公告)日: | 2019-09-06 |
发明(设计)人: | 于海斌;曾鹏;徐皑冬;闫炳均;宋岩;王志平;胡波;王锴;孙俊男 | 申请(专利权)人: | 中国科学院沈阳自动化研究所 |
主分类号: | G06F11/22 | 分类号: | G06F11/22 |
代理公司: | 沈阳科苑专利商标代理有限公司 21002 | 代理人: | 徐丽;周秀梅 |
地址: | 110016 *** | 国省代码: | 辽宁;21 |
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摘要: | 本发明涉及嵌入式外部易失性存储器高可靠性存储与诊断方法。本发明首先将数据存储区域分为数据区域和数据备份区域,CPU将数据区域和数据备份区域分别按地址平均分为8部分,按顺序对数据区域部分进行诊断;在诊断的过程中,先将一部分数据区域数据拷贝到相应的备份区域中,再对数据区域进行数据诊断,诊断结束将备份区域数据拷贝回相应数据区域;本发明诊断程序运行在系统空闲时间,可以把主控制器从繁重的存储器的诊断程序中解放出来,和传统的诊断方法相比,主控制器运行开销比较小,主控制器利用率比较高。本发明能够方便实现程序运行空间的切换,不需要动态更改程序的运行空间,程序设计简单,减少了程序运行空间动态变换产生的故障。 | ||
搜索关键词: | 嵌入式 系统 外部 易失性 存储器 可靠性 存储 诊断 方法 | ||
【主权项】:
1.一种嵌入式系统外部易失性存储器高可靠性存储与诊断方法,用于嵌入式控制器在运行的过程中对外部易失性存储器进行数据存储和数据诊断,其特征在于,包括以下步骤:将RAM平均划分为两个区域:诊断区域和备份区域;MCU将诊断区域和备份区域分别进行2n等分区,n为大于2的自然数;MCU按次序对诊断区域分别进行诊断:MCU对某一诊断区域进行诊断时,首先将诊断区域的数据拷贝到备份区域,然后再对诊断区域进行数据诊断,诊断区域中某一区域进行数据诊断时,通过控制电路使程序运行于除此区域以外的诊断区域和相对应的数据备份区域中,诊断完成后将备份区域的数据拷贝回诊断区域;所述MCU在正常运行时将程序分为3个部分:数据拷贝程序、数据诊断程序和用户应用程序,分别对应于不同线程;数据拷贝程序根据不同的系统EBI地址将某一诊断区域的数据拷贝到序号相应的备份区域中,且数据拷贝程序优先级最高,在拷贝的过程中不允许其他线程打断;数据诊断程序通过传统的RAM测试方法对某一诊断区域进行诊断,且数据诊断程序优先级比较低,可以在MCU空闲时对诊断区域进行数据诊断;用户应用程序用于实现嵌入式系统的功能需求;当某一诊断区域进行数据诊断时,数据诊断程序和用户应用程序运行在除该诊断区域以外的诊断区域和与该诊断区域相对应的备份区域中。
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