[发明专利]半导体存储器装置有效
申请号: | 201510869983.7 | 申请日: | 2015-12-02 |
公开(公告)号: | CN106024789B | 公开(公告)日: | 2019-03-08 |
发明(设计)人: | 木原雄治 | 申请(专利权)人: | 力晶科技股份有限公司 |
主分类号: | H01L27/11 | 分类号: | H01L27/11;G11C11/41;G11C11/412 |
代理公司: | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人: | 陈小雯 |
地址: | 中国台湾新竹*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
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摘要: | 本发明公开一种半导体存储器装置,半导体存储器装置包含2个TFT MOS晶体管、2个主体MOS晶体管、第一及第二存取MOS晶体管以及第一及第二电容器。TFT MOS晶体管及主体MOS晶体管形成用于保持在第一与第二节点之间反相的数据的闩锁。第一主体存取MOS晶体管根据字符线的电压切换第一节点以连接至第一位线。第二主体存取MOS晶体管根据字符线的电压切换第二节点以连接至第二位线。第一电容器设置于第一节点与电源电压之间。第二电容器设置于第二节点与电源电压之间。主体MOS晶体管及存取MOS晶体管通过嵌入式栅极型MOS晶体管形成。 | ||
搜索关键词: | 半导体 存储器 装置 | ||
【主权项】:
1.一种半导体存储器装置,其为电容器存储器类型,包括:2个TFT型P‑通道MOS晶体管及2个TFT型N‑通道MOS晶体管,构成用于保持在第一节点与第二节点之间反相的数据的闩锁;第一主体存取MOS晶体管,根据字符线的电压切换所述第一节点以连接至或不连接至第一位线;第二主体存取MOS晶体管,根据所述字符线的所述电压切换所述第二节点以连接至或不连接至第二位线;第一电容器,设置于所述第一节点与电源电压之间;以及第二电容器,设置于所述第二节点与所述电源电压之间,其中所述4个TFT型MOS晶体管分别是垂直型的TFT型MOS晶体管,且包含第一P‑通道MOS晶体管、第二P‑通道MOS晶体管、第一N‑通道MOS晶体管以及第二N‑通道MOS晶体管,其中所述第一P‑通道MOS晶体管与所述第一N‑通道MOS晶体管具有同一栅极并形成第一反相器,且所述第二P‑通道MOS晶体管与所述第二N‑通道MOS晶体管具有同一栅极并形成第二反相器。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
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H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的