[发明专利]一维核磁共振氢谱法测定三硅氧烷表面活性剂中含氢硅油残留量的方法有效
| 申请号： | 201510870182.2 | 申请日： | 2015-12-01 |
| 公开（公告）号： | CN105301031B | 公开（公告）日： | 2017-06-27 |
| 发明（设计）人： | 纪红兵;符国华;李玮 | 申请（专利权）人： | 中山大学 |
| 主分类号： | G01N24/08 | 分类号： | G01N24/08 |
| 代理公司： | 广州市深研专利事务所44229 | 代理人： | 姜若天 |
| 地址： | 510275 *** | 国省代码： | 广东;44 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明公开了一种三硅氧烷表面活性剂中含氢硅油残留量的测定方法，包括如下步骤采用一维核磁共振氢谱，以单峰的1,3,5‑三溴苯为统一内标，对三硅氧烷表面活性剂进行定量分析或浓度测定，使用单峰内标作为一维核磁共振定量的介质进行定量分析。该方法不仅可以用于甲基含氢硅油和嵌段含氢硅油含氢量的测定，也可以应用于三硅氧烷表面活性剂中含氢硅油含量的测定。各个单体化合物的浓度可根据样品中化合物的特征核磁信号的积分与其浓度的正比关系直接计算获得。该方法解决了三硅氧烷类表面活性剂信号重叠导致测定不准和测试繁琐的问题，该发明的实验方案也有对混合物中多个化合物进行准确定量的可能。 | ||
| 搜索关键词： | 核磁共振 氢谱法 测定 三硅氧烷 表面活性剂 中含氢 硅油 残留 方法 | ||
【主权项】：
一种三硅氧烷表面活性剂中含氢硅油残留量的测定方法，其特征在于包括如下步骤：采用一维核磁共振氢谱，以单峰的1,3,5‑三溴苯为统一内标，对三硅氧烷表面活性剂进行定量分析或浓度测定，使用单峰内标作为一维核磁共振定量的介质进行定量分析;使用一维核磁共振氢谱为定量方法，以内标为桥梁，测定甲基含氢硅油或嵌段含氢硅油的含氢量;使用一维核磁共振氢谱为定量方法，以内标为桥梁，定量不同分子量或不同结构的三硅氧烷类表面活性剂中含氢硅油的残留量。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中山大学，未经中山大学许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201510870182.2/，转载请声明来源钻瓜专利网。
