[发明专利]用于分析仪器的粉末自动加样装置在审
| 申请号： | 201510871803.9 | 申请日： | 2015-12-02 |
| 公开（公告）号： | CN105301272A | 公开（公告）日： | 2016-02-03 |
| 发明（设计）人： | 杨立新 | 申请（专利权）人： | 南京华欣分析仪器制造有限公司 |
| 主分类号： | G01N35/10 | 分类号： | G01N35/10;G01N35/00 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 213000 江*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本申请公开了一种用于分析仪器的粉末自动加样装置，包括用于储存试样并提供试样的放样机构以及用于从放样机构接取试样并称取试样的称样机构，放样机构底部开设有用于掉落试样的漏样孔，称样机构设有开口朝上布置的称样器皿，漏样孔与称样器皿的开口上下对应布置；放样机构设有用于控制试样掉落量的试样掉落控制机构，试样掉落控制机构通过开启或关闭漏样孔以控制试样从漏样孔掉落的掉落量。能够对获取的试样进行精确控制。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 分析仪器 粉末 自动 装置 | ||
【主权项】：
一种用于分析仪器的粉末自动加样装置，包括用于储存试样并提供试样的放样机构(1) 以及用于从所述放样机构(1) 接取所述试样并称取所述试样的称样机构(2)，其特征在于，所述放样机构(1) 底部开设有用于掉落所述试样的漏样孔(3)，所述称样机构(2) 设有开口朝上布置的称样器皿(201)，所述漏样孔(3) 与所述称样器皿(201) 的开口上下对应布置；所述放样机构(1) 设有用于控制所述试样掉落量的试样掉落控制机构(4)，所述试样掉落控制机构(4) 通过开启或关闭所述漏样孔(3) 以控制所述试样从所述漏样孔(3) 掉落的掉落量。
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