[发明专利]光电辐射传感器响应时间测试装置

摘要

本发明涉及光电辐射传感器响应时间测试装置，包括箱体、斩波器和控制器；斩波器设置在箱体内，斩波器用于将恒定光源信号转换为交变入射光源信号；斩波器中的支架安装在箱体上，马达安装在支架上，斩波片固定安装在马达的输出轴上；斩波片内设有均匀分布的透光孔，透光孔位于光耦接收面内，光耦安装在支架上，光耦用于采集斩波片旋转时的交变入射光源信号频率并传输给控制器；箱体内斩波器前方的空间设为检测仓，光电辐射传感器放在检测仓内并置于斩波片下方；控制器安装在检测仓下方，控制器内设置有斩波器驱动与控制电路和高频信号检测电路。本发明填补了光电辐射传感器响应时间测试技术的空白，对传感器研发及测试起到重要的作用。

主权项

1.光电辐射传感器响应时间测试装置，包括箱体（1）、斩波器（6）和控制器（5）；所述斩波器（6）设置在箱体（1）内，斩波器（6）用于将恒定光源信号转换为交变入射光源信号；其特征在于：所述斩波器（6）包括支架（6.1）、光耦（6.2）、斩波片（6.3）和马达（6.4），所述支架（6.1）安装在箱体（1）上，所述马达（6.4）安装在支架（6.1）上，所述斩波片（6.3）固定安装在马达（6.4）的输出轴上，马达（6.4）启动带动斩波片（6.3）旋转；所述斩波片（6.3）内设有均匀分布的透光孔，所述透光孔位于光耦（6.2）接收面内，所述光耦（6.2）安装在支架（6.1）上，光耦（6.2）用于采集斩波片（6.3）旋转时的交变入射光源信号频率并传输给控制器（5）；所述箱体（1）内斩波器（6）前方的空间设为检测仓（7），所述光电辐射传感器（8）放在检测仓（7）内并置于斩波片（6.3）下方；所述控制器（5）安装在检测仓（7）下方，控制器（5）内设置有斩波器（6）驱动与控制电路和高频信号检测电路；所述斩波器（6）驱动与控制电路与斩波器（6）中的马达（6.4）和光耦（6.2）连接，斩波器（6）驱动与控制电路一方面驱动斩波器（6）平稳高速的运转，另一方面根据光耦（6.2）采集到的交变入射光源信号频率精确调整和检测斩波片（6.3）转速；所述高频信号检测电路与光电辐射传感器（8）连接，高频信号检测电路实时精确检测被测光学辐射传感器输出的高频调制信号的振幅；所述检测仓（7）内设置有滑轨系统（10），在滑轨系统（10）上安装有传感器夹具（9），置于检测仓（7）内的光电辐射传感器（8）装夹在传感器夹具（9）上；所述滑轨系统（10）包括底板（10.1）、滑道（10.2）和滑块（10.3），所述底板（10.1）固定在箱体（1）内壁上，在底板（10.1）两侧固定安装两件相互平行的滑道（10.2），两件滑道（10.2）下表面的内侧边设有沿滑道（10.2）长度走向的凹槽，所述凹槽与底板（10.1）之间构成滑槽；所述滑块（10.3）设置在两件滑道（10.2）之间，滑块（10.3）两侧边滑动装配在对应侧的滑槽内，所述传感器夹具（9）固定在滑块（10.3）上；所述检测仓门（4）固定连接在滑块（10.3）外端部，检测仓门（4）内侧设有密封圈；所述滑块（10.3）与滑道（10.2）的接触配合面之间设有润滑条（10.4），以使滑块（10.3）滑动顺畅；所述滑道（10.2）上设有锁紧销（10.5），所述滑块（10.3）上设有卡口，当关闭检测仓门（4）后，锁紧销（10.5）嵌入卡口内，以利于检测仓门（4）关闭紧密；测量时，打开检测仓门（4），将被测光电辐射传感器（8）装夹在传感器夹具（9）上，然后推上检测仓门（4）；通过调节检测仓（7）内的滑轨系统（10），使被测光电辐射传感器（8）定位在最佳测量位置接受交变入射光源信号，并阻隔外界杂散光源信号对测量的影响；斩波器（6）中的马达（6.4）启动，带动斩波片（6.3）旋转，使经过入射光学系统（3）射入的光源信号成为交变入射光源信号；在此过程中，斩波器（6）中的光耦（6.2）采集斩波片（6.3）旋转时的交变入射光源信号频率并传输给控制器（5），以控制和检测斩波器（6）转速；所述控制器（5）中的斩波器（6）驱动与控制电路驱动斩波器（6）平稳高速的运转，并根据需要精确调整和检测斩波片（6.3）转速；控制器（5）中的高频信号检测电路则实时精确检测被测光学辐射传感器输出的高频调制信号的振幅。