[发明专利]一种基于同步荧光法快速检测煎炸油品质的方法有效
申请号: | 201510882197.0 | 申请日: | 2015-12-03 |
公开(公告)号: | CN105445246B | 公开(公告)日: | 2019-01-25 |
发明(设计)人: | 梁建芬;王璇;曹思远;陈敏 | 申请(专利权)人: | 中国农业大学 |
主分类号: | G01N21/64 | 分类号: | G01N21/64;G01N21/33;G01N5/00 |
代理公司: | 北京众合诚成知识产权代理有限公司 11246 | 代理人: | 陈波 |
地址: | 100094 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明涉及一种基于同步荧光法快速检测煎炸油品质的方法。运用统计学方法建立油样的同步荧光峰响应与理化指标的相关性模型,该相关性模型中,中心发射波长与羰基价之间、中心发射波长与极性物质含量之间、荧光强度与羰基价之间、荧光强度与极性物质含量之间,均呈高度的正相关关系。按照与建立相关性模型中同步荧光光谱测定相同的方法,对待测煎炸油样品进行同步荧光光谱的测定,将同步荧光光谱谱图的中心发射波长、荧光强度的大小与所述相关性模型进行对比,分析煎炸油中的羰基价和极性物质含量,进而判断煎炸油的品质。相比常规方法,本发明技术简单,易于操作,油样取样后可直接上机扫描,无需进行预处理,一个样品的检测时间只需几秒钟。 | ||
搜索关键词: | 一种 基于 同步 荧光 快速 检测 油品 方法 | ||
【主权项】:
1.一种基于同步荧光法快速检测煎炸油品质的方法,其特征在于,运用统计学方法建立油样的同步荧光峰响应与理化指标的相关性模型,利用该模型分析煎炸油的品质,模型的建立包括以下步骤:(1)油样的同步荧光光谱测定对经过不同煎炸时间的油样进行同步荧光光谱的扫描,激发狭缝宽度为1~2nm,发射狭缝宽度为2~10nm;扫描范围为波长250~700nm,即EX:250~700nm,EM:260~700nm;积分时间为1s;扫描速率为1200nm/min;光谱采集的波长间隔为1nm;选择10mm×10nm×45nm规格的石英样品池;其中油样的制备具体为:将油箱控制在180±5℃进行油条的煎炸,每8个小时取一次样,共取9~10次样;(2)油样的极性组分含量及羰基价测定极性组分含量的测定采用GB/T 5009.202‑2003法;羰基价的测定采用GB/T5009.37‑2003法;(3)同步荧光峰响应与理化指标的相关性分析运用统计学方法对步骤(1)中的油样同步荧光峰响应与步骤(2)中油样理化指标的检测结果进行相关性分析,分别计算中心发射波长与羰基价的相关性系数、中心发射波长与极性物质含量的相关性系数、荧光强度与羰基价的相关性系数、荧光强度与极性物质含量的相关性系数,建立相关性模型;相关性系数计算公式为:
其中,r表示相关性系数,xi表示一组变量的相关性分析中其中一个变量的第i个值,
表示n个该变量的平均值;yi表示一组变量的相关性分析中另一个变量的第i个值,
表示n个该变量的平均值;所述四种相关性系数均在0.90以上;所述相关性模型经工厂实际生产线上的3种批次样品进行了验证,得出油脂在煎炸过程中,荧光峰中心发射波长的位置变化与响应强度和油脂常规理化指标之间相关系数|r|均≥0.95;其中3种批次样品煎炸时间取样点为8、16、24、32、40、48、56、64、72h;按照与建立相关性模型中同步荧光光谱测定相同的方法,对待测煎炸油样品进行同步荧光光谱的测定,将同步荧光光谱谱图的中心发射波长、荧光强度的大小与所述相关性模型进行对比,进而判断煎炸油的品质,其中待测煎炸油样品直接进行同步荧光光谱测定,无需进行预处理;所述同步荧光光谱的扫描,激发和发射狭缝宽度会影响光谱信号的接受,针对不同样品需要对激发和发射狭缝宽度进行优化,优选地,狭缝优化时采用三维荧光扫描。
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