[发明专利]钢琴键子触感测量块和钢琴键子触感测量方法在审
申请号: | 201510883583.1 | 申请日: | 2015-12-03 |
公开(公告)号: | CN105300251A | 公开(公告)日: | 2016-02-03 |
发明(设计)人: | 何建玮;卢洁;何文宇;李建萍 | 申请(专利权)人: | 广州珠江钢琴集团股份有限公司 |
主分类号: | G01B5/18 | 分类号: | G01B5/18 |
代理公司: | 广州市华学知识产权代理有限公司 44245 | 代理人: | 付茵茵;陈燕娴 |
地址: | 510388 广东省*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 本发明涉及钢琴键子触感测量块,包括主体和与主体固定的配重;主体的下端包括左平面、中间凸块、右平面,其中左平面和右平面位于同一水平面上,向下凸出的中间凸块位于左平面和右平面之间;中间凸块的下端面为从前下方往后上方倾斜的斜面;当中间凸块的斜面压下一个键子的前端并与该键子贴合时,左平面位于下压键子左侧键子的正上方,右平面位于下压键子右侧键子的正上方。本发明还涉及钢琴键子触感测量方法。本发明具有结构简单、操作方便的优点,属于钢琴生产测量技术领域。 | ||
搜索关键词: | 钢琴 触感 测量 测量方法 | ||
【主权项】:
1.钢琴键子触感测量块,其特征在于:包括主体和与主体固定的配重;主体的下端包括左平面、中间凸块、右平面,其中左平面和右平面位于同一水平面上,向下凸出的中间凸块位于左平面和右平面之间;中间凸块的下端面为从前下方往后上方倾斜的斜面;当中间凸块的斜面压下一个键子的前端并与该键子贴合时,左平面位于下压键子左侧键子的正上方,右平面位于下压键子右侧键子的正上方。
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