[发明专利]基于振动响应特性和波谷控制的振动输入谱参数确定方法有效

专利信息
申请号: 201510886289.6 申请日: 2015-12-04
公开(公告)号: CN105550401B 公开(公告)日: 2018-06-01
发明(设计)人: 金贝;王宁;宁晓戈 申请(专利权)人: 北京航天时代光电科技有限公司
主分类号: G06F17/50 分类号: G06F17/50
代理公司: 中国航天科技专利中心 11009 代理人: 陈鹏
地址: 100094*** 国省代码: 北京;11
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明基于振动响应特性和波谷控制的振动输入谱参数确定方法,步骤如下:1)依据产品特性确定产品在振动中需要关注的关键部位;2)测量获取关键部位的振动响应曲线的所有特征频率段;3)确定所使用的输入谱中在各特征频率段的功率谱密度,计算得到各特征频率段的功率谱密度放大倍数;4)获取目标响应谱线中在各特征频率段的谱密度,计算得到设计输入谱中在各特征频率段的谱密度;5)将所获得的各特征频率段由小至大进行排序,计算得到相邻频率段的谱密度增益或衰减斜率,即为输入谱参数;本发明该方法可有效避免因产品优势频率响应对产品造成不期望出现的过筛选结果,避免因过筛选试验造成的可靠性隐患。
搜索关键词: 特征频率段 输入谱 振动响应特性 功率谱密度 参数确定 关键部位 波谷 振动响应曲线 产品特性 产品优势 获取目标 频率响应 筛选试验 衰减斜率 频率段 响应谱 过筛 排序 测量 放大 期望
【主权项】:
1.基于振动响应特性和波谷控制的振动输入谱参数确定方法,其特征在于步骤如下:1)依据产品特性确定产品在振动中需要关注的关键部位;2)测量获取关键部位的振动响应曲线的所有特征频率段,即所有波峰频率段和所有波谷频率段,及各特征频率段下的响应功率谱密度W;3)确定所使用的输入谱中在各特征频率段的功率谱密度W0,计算得到各特征频率段的功率谱密度放大倍数Q; Q = W W 0 ]]>4)获取目标响应谱线中在各特征频率段的谱密度Wa,计算得到设计输入谱中在各特征频率段的谱密度Wb W b = W a Q ]]>5)将步骤2)所获得的各特征频率段由小至大进行排序,计算得到相邻频率段的谱密度增益或衰减斜率A,即为输入谱参数; A = ( 10 log w b 2 w b 1 log f 2 f 1 ′ log 2 ) ]]>式中:f1'为某一波峰频率段f1的终点频率;f2为某一波谷频率段f2的起点频率;wb1为某一波峰频率段f1的功率谱密度;wb2为某一波谷频率段f2的功率谱密度。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于北京航天时代光电科技有限公司,未经北京航天时代光电科技有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201510886289.6/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top