[发明专利]用于快速测量取向硅钢片晶粒度及磁畴壁宽度的装置有效
| 申请号： | 201510887354.7 | 申请日： | 2015-12-03 |
| 公开（公告）号： | CN105300859B | 公开（公告）日： | 2018-07-03 |
| 发明（设计）人： | 党宁员;姚腊红;胡守天;朱业超;程祥威;周前华 | 申请（专利权）人： | 武汉钢铁有限公司 |
| 主分类号： | G01N15/02 | 分类号： | G01N15/02;G01N15/10 |
| 代理公司： | 武汉开元知识产权代理有限公司 42104 | 代理人： | 胡镇西 |
| 地址： | 430083 湖北省*** | 国省代码： | 湖北;42 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种用于快速测量取向硅钢片晶粒度及磁畴壁宽度的装置，包括试样台、显形部件；所述显形部件包括显示窗和接触层，所述显示窗为透明的玻璃板或透明的硬质塑料板，所述显示窗与接触层之间形成用于充装显形悬浮液的存液腔；所述显示窗上设置有用于向存液腔内充装显形悬浮液的悬浮液注入孔，以及用于平衡存液腔内压力的存液腔闭气孔，所述悬浮液注入孔和存液腔闭气孔可根据需要开启或闭合；所述试样台内设置有磁轭，所述磁轭上设置有磁化绕组，当磁化绕组通电后可将放置于试样台上的取向硅钢试样磁化。该装置采用粉纹法原理，能够快速准确的测量取向硅钢片晶粒度及磁畴壁宽度。 | ||
| 搜索关键词： | 存液腔 显形 悬浮液 磁畴壁 晶粒度 显示窗 取向硅钢片 磁化绕组 快速测量 接触层 试样台 透明的 注入孔 闭气 充装 磁轭 玻璃板 硅钢片 磁化 硬质塑料板 闭合 测量取向 取向硅钢 内压力 粉纹 通电 平衡 | ||
【主权项】：
1.一种用于快速测量取向硅钢片晶粒度及磁畴壁宽度的装置，包括显形部件(1)、试样台(17)，其特征在于：所述显形部件(1)包括显示窗(12)和接触层(13)，所述显示窗(12)为透明的玻璃板或透明的硬质塑料板，所述显示窗(12)与接触层(13)之间形成用于充装显形悬浮液的存液腔(8)，所述存液腔(8)为密闭的薄层空腔；所述显示窗(12)上设置有用于向存液腔(8)内充装显形悬浮液的悬浮液注入孔(6)，以及用于平衡存液腔(8)内压力的存液腔闭气孔(7)，所述悬浮液注入孔(6)和存液腔闭气孔(7)可根据需要开启或闭合；所述试样台内设置有磁轭(2)，所述磁轭(2)上设置有磁化绕组(14)，当磁化绕组(14)通电后可将放置于试样台上的取向硅钢试样(16)磁化；所述磁轭(2)为U形结构，通过取向硅钢叠片制作并固定而成；所述磁化绕组(14)缠绕在磁轭(2)的下部。
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