[发明专利]红外探测器在全温响应范围内消除非均匀性的方法和装置有效

专利信息
申请号: 201510888129.5 申请日: 2015-12-05
公开(公告)号: CN105371964B 公开(公告)日: 2018-08-17
发明(设计)人: 孙小亮;李玉岩;潘晓东;汪江华 申请(专利权)人: 中国航空工业集团公司洛阳电光设备研究所
主分类号: G01J5/10 分类号: G01J5/10;G01J5/06
代理公司: 郑州睿信知识产权代理有限公司 41119 代理人: 胡泳棋
地址: 471009 *** 国省代码: 河南;41
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摘要: 发明涉及红外探测器在全温响应范围内消除非均匀性的方法和装置,该方法包括以下步骤:首先计算探测器对应的非均匀校正系数;然后根据对应的非均匀校正系数对探测器进行非均匀校正。该方法通过对红外探测器进行多段非均匀校正,及段非均匀校正系数之间的实时无缝切换技术,有效改善探测器全温响应范围的非均匀性,在改善系统的成像质量及其探测性能的同时,既不改变系统的操作复杂度,又较好工程实用性和使用灵活性。该方法可以应用在各类红外成像系统及探测系统中。
搜索关键词: 红外探测器 响应 范围内 消除 均匀 方法 装置
【主权项】:
1.一种红外探测器在全温响应范围内消除非均匀性的方法,其特征在于,包括以下步骤:(A)计算探测器对应的非均匀校正系数:在红外探测器的固定积分时间下测量出探测器的近似线性响应温差及其全温响应区间;根据所述近似线性响应温差将所述全温响应区间分为N段近似线性响应温度区间;分别采集在所述N段近似线性响应温度区间内探测器对黑体高低温点的响应值,然后分别计算N段近似线性响应温度区间对应的探测器的非均匀校正系数;(B)根据对应的非均匀校正系数对探测器进行非均匀校正:对探测器成像的中心区域的探测器响应值中相同的响应值进行个数统计,通过统计来确定探测器成像的中心区域的探测器响应值在所述N段近似线性响应温度区间中的对应位置;然后根据所述对应位置对应的非均匀校正系数进行校正;所述探测器成像的中心区域的探测器响应值为所述个数的最大值对应的探测器响应值。
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