[发明专利]超晶格组分渐变缓冲层透射式AlGaN紫外光阴极及制备方法在审
申请号: | 201510891044.2 | 申请日: | 2015-12-07 |
公开(公告)号: | CN105449066A | 公开(公告)日: | 2016-03-30 |
发明(设计)人: | 刘磊;夏斯浩;郝广辉;常本康;孔熠柯 | 申请(专利权)人: | 南京理工大学 |
主分类号: | H01L33/36 | 分类号: | H01L33/36 |
代理公司: | 南京理工大学专利中心 32203 | 代理人: | 唐代盛 |
地址: | 210094 *** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 本发明公开了一种超晶格梯度组分渐变缓冲层透射式AlGaN紫外光电阴极及其制备方法,该光电阴极由自下而上由衬底层、超晶格梯度组分渐变p型AlxGa1-xN缓冲层、p型AlyGa1-yN发射层以及Cs或者Cs/O激活层组成,所述超晶格梯度组分渐变p型AlxGa1-xN缓冲层是由8-15个组分渐变层循环堆叠和一个过渡层组成,过渡层与发射层接触,最下面的组分渐变层与衬底层接触。本发明提高了晶体的生长质量,较大程度减少缓冲层内部的晶格缺陷,提高发射层光子的吸收率,最终提高光电阴极的光电发射量子效率。 | ||
搜索关键词: | 晶格 组分 渐变 缓冲 透射 algan 紫外光 阴极 制备 方法 | ||
【主权项】:
一种超晶格组分渐变结构缓冲层的透射式AlGaN紫外光阴极,其特征在于:该阴极自下而上由衬底层(1)、超晶格梯度组分渐变p型AlxGa1‑xN缓冲层(2)、p型AlyGa1‑yN发射层(3)以及Cs或者Cs/O激活层(4)组成,所述超晶格梯度组分渐变p型AlxGa1‑xN缓冲层(2)是由8‑15个组分渐变层(11)循环堆叠和一个过渡层(12)组成,过渡层(12)与发射层(3)接触,最下面的组分渐变层(11)与衬底层(1)接触。
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