[发明专利]超晶格组分渐变缓冲层透射式AlGaN紫外光阴极及制备方法在审

专利信息
申请号: 201510891044.2 申请日: 2015-12-07
公开(公告)号: CN105449066A 公开(公告)日: 2016-03-30
发明(设计)人: 刘磊;夏斯浩;郝广辉;常本康;孔熠柯 申请(专利权)人: 南京理工大学
主分类号: H01L33/36 分类号: H01L33/36
代理公司: 南京理工大学专利中心 32203 代理人: 唐代盛
地址: 210094 *** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明公开了一种超晶格梯度组分渐变缓冲层透射式AlGaN紫外光电阴极及其制备方法,该光电阴极由自下而上由衬底层、超晶格梯度组分渐变p型AlxGa1-xN缓冲层、p型AlyGa1-yN发射层以及Cs或者Cs/O激活层组成,所述超晶格梯度组分渐变p型AlxGa1-xN缓冲层是由8-15个组分渐变层循环堆叠和一个过渡层组成,过渡层与发射层接触,最下面的组分渐变层与衬底层接触。本发明提高了晶体的生长质量,较大程度减少缓冲层内部的晶格缺陷,提高发射层光子的吸收率,最终提高光电阴极的光电发射量子效率。
搜索关键词: 晶格 组分 渐变 缓冲 透射 algan 紫外光 阴极 制备 方法
【主权项】:
一种超晶格组分渐变结构缓冲层的透射式AlGaN紫外光阴极,其特征在于:该阴极自下而上由衬底层(1)、超晶格梯度组分渐变p型AlxGa1‑xN缓冲层(2)、p型AlyGa1‑yN发射层(3)以及Cs或者Cs/O激活层(4)组成,所述超晶格梯度组分渐变p型AlxGa1‑xN缓冲层(2)是由8‑15个组分渐变层(11)循环堆叠和一个过渡层(12)组成,过渡层(12)与发射层(3)接触,最下面的组分渐变层(11)与衬底层(1)接触。
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