[发明专利]一种微小电容测量方法有效
| 申请号： | 201510894356.9 | 申请日： | 2015-12-08 |
| 公开（公告）号： | CN105527501B | 公开（公告）日： | 2019-04-05 |
| 发明（设计）人： | 谢念;何峰;寻骈臻 | 申请（专利权）人： | 中国电子科技集团公司第四十八研究所 |
| 主分类号： | G01R27/26 | 分类号： | G01R27/26 |
| 代理公司： | 湖南兆弘专利事务所(普通合伙) 43008 | 代理人： | 周长清;胡君 |
| 地址： | 410111 湖南*** | 国省代码： | 湖南;43 |
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| 摘要： | 本发明公开一种微小电容测量方法，该测量方法包括电容值测量，电容值测量为：分别测量待测电容与参考电容从第一电压值放电至第二电压值时所需的放电时间，根据放电时间与电容值的关系、以及测量得到的放电时间计算待测电容的电容值。本发明基于放电时间与电容值的关系测量电容值，具有实现操作简单、所需成本低、能够测量微小电容且不受电容值限制，同时测量效率及精度高的优点。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 微小 电容 测量方法 | ||
【主权项】：
1.一种微小电容测量方法，其特征在于，所述测量方法包括电容值测量步骤，所述电容值测量步骤为：分别测量待测电容与参考电容从第一电压值放电至第二电压值时所需的放电时间，根据放电时间与电容值的关系、以及测量得到的放电时间计算待测电容的电容值；所述放电时间的具体测量步骤为：依次将待测电容、参考电容接至同一充放电回路中，通过所述充放电回路将接入的电容充电至第一电压值后使所述接入的电容开始放电，并记录放电至第二电压值所需的放电时间，分别测量得到待测电容、参考电容所需的放电时间；所述待测电容的电容值具体根据参考电容的电容值、以及待测电容与参考电容之间放电时间的比值计算得到。
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