[发明专利]实现微波测试仪器近杂散自动校准的系统及方法有效
| 申请号： | 201510894906.7 | 申请日： | 2015-12-07 |
| 公开（公告）号： | CN105548932B | 公开（公告）日： | 2018-06-19 |
| 发明（设计）人： | 解建红;蒋佳佳 | 申请（专利权）人： | 上海创远仪器技术股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R35/00 | 分类号： | G01R35/00 |
| 代理公司： | 上海智信专利代理有限公司 31002 | 代理人： | 王洁;郑暄 |
| 地址： | 200233 上海*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种实现微波测试仪器近杂散自动校准的系统及方法，其中包括电源，用以为待测设备供电；基带板，与待测设备相连接；控制终端，用以根据预先设定的程序通过基带板向待测设备发送控制变量对应的频率控制字信号，并根据相噪仪测量得到的杂散点的大小与系统预设杂散判定值的大小关系进行杂散校准；相噪仪，用以在不同的控制变量对应的频率控制字信号下检测杂散值并得到最大的杂散点对应的频率点、杂散点的位置及杂散点的大小。采用该种实现微波测试仪器近杂散自动校准的系统及方法，测试过程完全自动化，一旦测试参数配置好后，系统可以自动运行，完成杂散的自动测试和校准过程，大大减少了人工测试的时间和精力，具有更广泛的应用范围。 1 | ||
| 搜索关键词： | 杂散 微波测试仪器 待测设备 自动校准 频率控制字 基带板 测试参数配置 测试过程 大小关系 发送控制 控制变量 控制终端 人工测试 校准过程 自动测试 自动运行 频率点 校准 预设 电源 判定 自动化 测量 供电 检测 应用 | ||
【主权项】：
1.一种实现微波测试仪器近杂散自动校准的系统，其特征在于，所述的系统包括：电源，用以为待测设备供电；基带板，与所述的待测设备相连接；控制终端，用以根据预先设定的程序通过基带板向所述的待测设备发送控制变量对应的频率控制字信号，并根据相噪仪测量得到的杂散点的大小与系统预设杂散判定值的大小关系进行杂散校准；相噪仪，用以在不同的控制变量对应的频率控制字信号下检测杂散值并得到最大的杂散点对应的频率点、杂散点的位置及杂散点的大小；所述的系统通过以下步骤实现微波测试仪器近杂散自动校准：(1)设定系统预设杂散判定值；(2)所述的控制终端配置测试频率点；(3)所述的控制终端按顺序选择一个控制变量并将控制变量对应的频率控制字信号发送至所述的待测设备；(4)所述的相噪仪在所述的控制变量对应的频率控制字信号下进行相位噪声测试；(5)所述的相噪仪得到相位噪声曲线上最大的杂散点的大小；(6)所述的控制终端判断所述的杂散点的大小和系统预设杂散判定值的关系，如果所述的杂散点的大小大于系统预设杂散判定值，则继续步骤(7)，否则输出校准已解决；(7)所述的控制终端重新选取下一个控制变量并将控制变量对应的频率控制字信号发送至所述的待测设备，然后继续步骤(3)。
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