[发明专利]一种铁磁材料太赫兹介电常数的测量系统

摘要

本发明公开了一种铁磁材料太赫兹介电常数的测量系统，该系统包括：飞秒激光脉冲发生装置、分光装置、太赫兹光发生装置、两激光脉冲延时装置、起偏装置、样品架、磁场发生装置、检偏装置、弱光光电探测器，太赫兹聚焦装置、时序太赫兹光强检测装置以及测试控制装置，本发明在测量铁磁样品在太赫兹波段的反射率的同时测量了样品在太赫兹波段磁化强度，能够计算出铁磁材料在太赫兹波段的准确介电常数。

主权项

1.一种铁磁材料太赫兹介电常数的测量系统，其特征在于该系统包括：用于提供测试使用的飞秒激光脉冲的飞秒激光脉冲发生装置；用于将飞秒脉冲光束分成三束激光的分光装置，与飞秒激光脉冲发生装置光路连接；用于将飞秒激光脉冲转换为太赫兹脉冲的飞秒脉冲激光触发的太赫兹光发生装置, 与分光装置的其中一束激光光路连接；用于调节飞秒激光脉冲进行延时处理的激光脉冲延时装置，与分光装置的其中一束激光光路连接；用于装填铁磁样品并且置于磁场中间的样品架；用于测试时校正克尔角与磁化作用关系的磁场发生装置；设于样品架外围；用于对飞秒激光脉冲进行延时处理的飞秒脉冲延时装置，与分光装置的其中一束激光光路连接；用于产生线偏振光的激光起偏装置，设于激光脉冲延时装置与样品架之间，该装置包括偏振片以及聚光元件；用于检测激光偏振状态发生变化的检偏装置，设于样品架与弱光光电探测器之间，该装置包括聚光元件以及高消光比偏振片；用于检测弱光光强的弱光光电探测器，与检偏装置光路连接；用于将太赫兹光进行聚焦的太赫兹聚焦装置，设于飞秒脉冲延时装置与样品架之间；用于检测太赫兹光强的时序太赫兹光强检测装置，与太赫兹聚焦装置光路连接；用于控制测试中各个变量变化的测试控制装置，通过电路连接飞秒脉冲延时装置、激光脉冲延时装置、磁场发生装置、弱光光电探测器以及时序太赫兹光强检测装置。