[发明专利]一种变温光谱测量装置有效
申请号: | 201510898434.2 | 申请日: | 2015-12-08 |
公开(公告)号: | CN105403548B | 公开(公告)日: | 2018-11-13 |
发明(设计)人: | 朱浩淼;马恩 | 申请(专利权)人: | 厦门稀土材料研究所 |
主分类号: | G01N21/64 | 分类号: | G01N21/64 |
代理公司: | 北京知元同创知识产权代理事务所(普通合伙) 11535 | 代理人: | 刘元霞;牛艳玲 |
地址: | 361024 福建省厦门市集*** | 国省代码: | 福建;35 |
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摘要: | 本发明涉及一种变温光谱测量装置,该装置包括激发光源、积分球、控温样品台、温度控制器和探测器;其中,温度控制器用于控制控温样品台的温度,激发光源与积分球以及积分球与探测器之间通过光纤相连接;激发光源发出的激发光通过光纤引入到积分球的积分球入射口并入射在控温样品台上,控温样品台上放置样品时样品发出的光或者控温样品台上未放置样品时控温样品台反射的光通过积分球出射口经光纤收集后引入到探测器,通过对比放置和未放置样品时探测器检测到的发射光谱的差异,计算得到发光量子产率,从而实现对样品发光的测量。本发明结合激发光源及探测器,可实现发光材料的变温发射光谱、量子产率等光学性能的测量。 | ||
搜索关键词: | 积分球 控温 激发光源 探测器 样品台 变温 光谱测量装置 温度控制器 发射光谱 光纤 产率 测量 探测器检测 发光材料 发光量子 光学性能 出射口 激发光 入射口 引入 时控 反射 量子 发光 | ||
【主权项】:
1.一种变温光谱测量装置,其特征在于,该装置包括激发光源、积分球、控温样品台、温度控制器和探测器;其中,温度控制器用于控制控温样品台的温度,激发光源与积分球之间通过第一光纤相连接,以及积分球与探测器之间通过第二光纤相连接;激发光源发出的激发光通过第一光纤引入到积分球的积分球入射口并入射在控温样品台上,控温样品台上放置样品时样品发出的光或者控温样品台上未放置样品时控温样品台反射的光通过积分球出射口经第二光纤收集后引入到探测器,通过测量不同温度下样品的发光强度,得到样品的荧光淬灭信息;通过对比放置和未放置样品时探测器检测到的发射光谱的差异,计算得到发光量子产率,从而变温光谱测量装置实现对样品在不同温度下的发光强度以及发光量子产率的测量。
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