[发明专利]具有量子阱结构的双结叠层GaAs电池及其制备方法有效

专利信息
申请号: 201510899915.5 申请日: 2015-12-08
公开(公告)号: CN105428456B 公开(公告)日: 2017-02-01
发明(设计)人: 张无迪;高鹏;薛超;刘丽蕊;石璘;姜明序 申请(专利权)人: 中国电子科技集团公司第十八研究所
主分类号: H01L31/18 分类号: H01L31/18;H01L31/0352;H01L31/0687;H01L31/0693;H01L31/0216
代理公司: 天津市鼎和专利商标代理有限公司12101 代理人: 李凤
地址: 300384 天津*** 国省代码: 天津;12
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明公开了一种具有量子阱结构的双结叠层GaAs电池及其制备方法,采用金属有机化学气相沉积法MOCVD,外延制备含有AlAs/GaAs的Bragg反射器、InGaAs量子阱的InGaAs/InGaAs双结激光电池,并包含氧化铝、氧化钛的双层减反射膜系。更大限度地实现了激光电池在响应光谱内的转换效率。
搜索关键词: 具有 量子 结构 双结叠层 gaas 电池 及其 制备 方法
【主权项】:
一种具有量子阱结构的双结叠层GaAs电池的制备方法,其特征在于,采用金属有机化学气相沉积法MOCVD,在GaAs/Ge衬底上面依次生长AlAs/GaAs的Bragg反射器、InGaAs量子阱、第一结InGaAs子电池、隧穿结、第二结InGaAs子电池、盖帽层,具体包括以下步骤:(1)在GaAs/Ge衬底上,外延生长InGaAs缓冲层;(2)外延生长AlAs/GaAs的Bragg反射器;(3)外延生长InGaAs量子阱;(4)外延生长第一结InGaAs子电池:依次生长GaInP背场、InxGa1-xAs基区、InxGa1-xAs发射区、GaInP窗口层;(5)外延生长隧穿结:依次生长InxGa1-xAs层和p型InxGa1-xAs层;(6)外延生长第二结InGaAs子电池:依次生长GaInP背场、InxGa1-xAs基区、InxGa1-xAs发射区、GaInP窗口层;(7)外延生长盖帽层;(8)制作电池上下电极;(9)制备电池减反射膜。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国电子科技集团公司第十八研究所,未经中国电子科技集团公司第十八研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201510899915.5/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top