[发明专利]检测结构部件中的缺陷的系统和方法有效
| 申请号： | 201510901661.6 | 申请日： | 2015-12-09 |
| 公开（公告）号： | CN105891214B | 公开（公告）日： | 2020-10-27 |
| 发明（设计）人： | 刘特斌;郑天骥 | 申请（专利权）人： | 香港城市大学 |
| 主分类号： | G01N21/88 | 分类号： | G01N21/88 |
| 代理公司： | 北京润平知识产权代理有限公司 11283 | 代理人： | 谢鑫;肖冰滨 |
| 地址： | 中国香港九龙*** | 国省代码： | 香港;81 |
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| 摘要： | 一种检测结构部件中的缺陷的方法，包括：通过向结构部件施加激励信号来激励所述结构部件；向被激励的结构部件施加光信号并捕获由被激励的结构部件对所施加光信号的反射形成的反射光信号；以及处理所述反射光信号以确定所述结构部件中的一个或多个缺陷。 | ||
| 搜索关键词： | 检测 结构 部件 中的 缺陷 系统 方法 | ||
【主权项】：
一种用于检测结构部件中的缺陷的方法，该方法包括以下步骤：通过向结构部件施加激励信号来激励所述结构部件；向被激励的结构部件施加光信号，并捕获由被激励的结构部件对所施加光信号的反射形成的反射光信号；以及处理所述反射光信号以确定所述结构部件中的一个或多个缺陷。
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