[发明专利]一种半导体IC类框架校平装置在审
申请号: | 201510912344.4 | 申请日: | 2015-12-11 |
公开(公告)号: | CN105551974A | 公开(公告)日: | 2016-05-04 |
发明(设计)人: | 朱宝才;王友明;管华良;张朝红;马春晖;何黎 | 申请(专利权)人: | 铜陵丰山三佳微电子有限公司 |
主分类号: | H01L21/48 | 分类号: | H01L21/48 |
代理公司: | 铜陵市天成专利事务所 34105 | 代理人: | 莫祚平 |
地址: | 244000 安徽*** | 国省代码: | 安徽;34 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明公开了一种半导体IC类框架校平装置,包括底座所述底座上固接导轨、弧形导料装置、左校平装置、右校平装置和驱动装置,所述导轨前端连接弧形导料装置,所述导轨两侧分别连接左校平装置和右校平装置。本IC引线框架校平装置的结构能够确保半导体IC框架从卷盘放料进过弧形导料,进入校平装置,校平装置分为左右两套,这样可以解决产品中间的基岛碰到滚轮而发生变形的问题。左右两边校平装置的校平滚轮上下都是分开自由调节,这样可以解决材料两边的内应力不一样,进行分开校平。本发明能够确保引线框架在加工前即消除材料的内应力,从而保证产品表面光滑,确保产品品质。同时本发明调整方便、简单实用,有效的提高了产品的生产效率。 | ||
搜索关键词: | 一种 半导体 ic 框架 平装 | ||
【主权项】:
一种半导体IC类框架校平装置,包括底座(1),其特征是所述底座(1)上固接导轨、弧形导料装置、左校平装置、右校平装置和驱动装置,所述导轨前端连接弧形导料装置,所述导轨两侧分别连接左校平装置和右校平装置;所述弧形导料装置包括弧形轨道(21)、导料器滚轮(22)和接头检测器(23),所述导料器滚轮(22)两端分别设有弧形轨道(21)和接头检测器(23);所述左校平装置包括滚轮支座(31)、校平滚轮(32)、丝杆固定块(33)、宽度调节丝杆(34)和上下调节丝杆(35),所述校平滚轮(32)通过螺母固定在丝杆上,所述丝杆连接滚轮支座,所述宽度调节丝杆(34)控制丝杆的左右移动,所述上下调节丝杆(35)控制丝杆的上下移动,所述上下调节丝杆(35)上设有滚轮位置检测百分表,所述宽度调节丝杆上设有宽度数字显示表(36);所述右校平装置与左校平装置结构相同;所述驱动装置包括电机(4)、主动轮、随动轮(42)和随动轮压力调整装置(43),所述随动轮压力调整装置(43)包括支轴(44)、弹簧(45)、挡销(46)和挡销座(47),所述随动轮(42)通过支轴(44)与挡销(46)相连,所述挡销(46)通过弹簧(45)与挡销座(47)相连,所述主动轮带动半导体IC框架移动。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于铜陵丰山三佳微电子有限公司,未经铜陵丰山三佳微电子有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201510912344.4/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:CMP工艺制作焊盘的方法
- 下一篇:一种添加散热片的封装件及其制造方法
- 同类专利
- 专利分类
H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造