[发明专利]基于双折射偏振干涉的高光谱成像装置及方法

摘要

基于双折射偏振干涉的高光谱成像装置及方法，本发明包括偏振分束器、半波片、Wollaston棱镜、角锥反射体、成像物镜和探测器，来自目标的入射光在探测器上产生干涉，采用内置式的干涉扫描方式，由探测器获得目标的干涉图像信息，最后经过傅里叶变换光谱复原处理后得到目标的光谱信息。本发明首次将单个Wollaston棱镜和角锥反射体组合成横向剪切分束器，降低高光谱成像仪的复杂度和制造成本，并且提高系统的稳定性和复原光谱的精度。本发明提出的高光谱成像装置及方法可为低复杂度、高稳定性、轻小型化、多功能化的高光谱成像仪器提供一种有效的技术途径。

主权项

基于双折射偏振干涉的高光谱成像装置，其特征在于：包括沿入射光方向依次放置的偏振分束器(1)、半波片(2)、Wollaston棱镜(3)和角锥反射体(4)，以及在出射光路上依次设置的成像物镜(5)和探测器(6)，偏振分束器(1)、半波片(2)、Wollaston棱镜(3)和角锥反射体(4)共中心轴，称为第一光轴，成像物镜(5)和探测器(6)共中心轴，称为第二光轴；偏振分束器(1)的透振方向与Wollaston棱镜(3)的其中一片楔板的晶体光轴方向相同，并且垂直于第一光轴，平行于第二光轴；半波片(2)的快轴与偏振分束器(1)的透振方向夹角为22.5°或67.5°，且半波片(2)的快轴垂直于第一光轴；角锥反射体(4)的三个反射面与第一光轴的夹角相同；Wollaston棱镜(3)和角锥反射体(4)组成横向剪切分束器，用于入射光束的横向剪切。