[发明专利]一种基于低频电磁的缺陷检测装置在审
| 申请号： | 201510916665.1 | 申请日： | 2015-12-08 |
| 公开（公告）号： | CN105353030A | 公开（公告）日： | 2016-02-24 |
| 发明（设计）人： | 申屠锋营;楼伟民;沈常宇;王友清 | 申请（专利权）人： | 中国计量学院 |
| 主分类号： | G01N27/85 | 分类号： | G01N27/85 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 310018 浙江省*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | 一种基于低频电磁的缺陷检测装置，其特征在于：由信号发生器(1)、功率放大器(2)、激励线圈(3)、霍尔元件(4)、示波器(5)和支架(6)组成；信号发生器(1)产生一个1-100Hz的低频正弦信号，经过功率放大器(2)放大后，信号通过放在支架(6)上的激励线圈(3)后会产生磁场，缺陷会使磁场发生变化，霍尔元件(4)能感应出这种磁场变化并通过示波器(5)显示出来，本发明以低频信号为激励信号，提高了检测的深度、无需永磁激励、无需耦合、成本较低，可以应用于各类实际工程中。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 低频 电磁 缺陷 检测 装置 | ||
【主权项】：
一种基于低频电磁的缺陷检测装置，其特征在于：由信号发生器(1)、功率放大器(2)、激励线圈(3)、霍尔元件(4)、示波器(5)和支架(6)组成；信号发生器(1)产生一个低频正弦信号，经过功率放大器(2)放大后，信号通过放在支架(6)上的激励线圈(3)后会产生磁场，缺陷会使磁场发生变化，霍尔元件(4)能感应出这种磁场变化并通过示波器(5)显示出来。
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