[发明专利]半导体加工设备有效

专利信息
申请号: 201510918370.8 申请日: 2015-12-11
公开(公告)号: CN106876299B 公开(公告)日: 2019-08-23
发明(设计)人: 赵隆超 申请(专利权)人: 北京北方华创微电子装备有限公司
主分类号: H01L21/67 分类号: H01L21/67
代理公司: 北京天昊联合知识产权代理有限公司 11112 代理人: 彭瑞欣;张天舒
地址: 100176 北京*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明提供的半导体加工设备,包括反应腔室、中央进气机构和边缘进气机构,其中,中央进气机构设置在反应腔室的顶部中心位置处;边缘进气机构包括进气口、匀流腔和多个出气口,匀流腔环绕设置在反应腔室的边缘位置处;多个出气口沿匀流腔的周向均匀分布。在每个出气口内设置有通断装置,用以在通过进气口向匀流腔内输送工艺气体时,在气压的作用下使出气口与反应腔室相连通;或者,在未向匀流腔内输送工艺气体时,在气压的作用下使出气口与反应腔室相隔离。本发明提供的半导体加工设备,其在将两种不同的工艺气体交替通入反应腔室时,可以避免留存在匀流腔内部的工艺气体进入到反应腔室内,从而可以保证工艺均匀性。
搜索关键词: 半导体 加工 设备
【主权项】:
1.一种半导体加工设备,包括反应腔室、中央进气机构和边缘进气机构,其中,所述中央进气机构设置在所述反应腔室的顶部中心位置处;所述边缘进气机构包括进气口、匀流腔和多个出气口,其中,所述匀流腔环绕设置在所述反应腔室的边缘位置处;所述进气口用于将工艺气体输送至所述匀流腔;所述多个出气口沿所述匀流腔的周向均匀分布,用以将所述匀流腔内的工艺气体输送至所述反应腔室内,其特征在于,在每个所述出气口内设置有通断装置,用以在通过所述进气口向所述匀流腔内输送工艺气体时,在气压的作用下使所述出气口与所述反应腔室相连通;或者,在未向所述匀流腔内输送工艺气体时,在气压的作用下使所述出气口与所述反应腔室相隔离。
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