[发明专利]一种压控衰减器的检测系统及检测方法

摘要

本发明涉及一种压控衰减器的检测系统及检测方法，它是由FPGA、ARM单片机、AD芯片、DA芯片、放大器、衰减器滤波器组成，可以发出两路相同的检测信号，一路通过压控衰减器，一路未通过压控衰减器，经过最终两路信号的比较分析，得出压控衰减器质量的检测结果并传给PC,有益效果是，结构简单，操作容易，降低了检测成本及检测难度，在来料检验环节控制压控衰减器的质量，从而及时退换货不会影响后期的生产及研发。

主权项

 一种压控衰减器的检测系统，包括控制模块、信号发射模块、器件检测模块、信号接收模块、PC显示，其特征在于：信号发射模块包括DA芯片、第一放大器、衰减器、第二放大器、功分器，连接为DA芯片、第一放大器、衰减器、第二放大器、功分器依次单向连接，双路输出，控制模块单向连接DA芯片；器件检测模块包括信号匹配电路、压控衰减器、DA芯片，连接为控制模块单向连接DA芯片，DA芯片单向连接压控衰减器，信号发射模块的双路输出分别连接信号匹配电路、压控衰减器；信号接收模块包括两路相同由滤波器、变压器、AD芯片串接组成的接收转换电路，器件检测模块的信号匹配电路、压控衰减器输出分别连接信号接收模块的两路接收转换电路，两路接收转换电路输出连接控制模块中的FPGA；控制模块中FPGA、PC显示与连接单片机。