[发明专利]红外摄像装置的死点校正方法、系统及校正系统

摘要

本发明提供一种红外摄像装置的死点校正方法、系统及校正系统。其中，所述方法包括：获取预设时长内，所述黑体提供的对应多个温度测试点的温度采样值、以及所述红外摄像装置提供的对应同一温度测试点的至少一帧图像数据；基于各温度测试点的温度采样值、和/或对应各温度测试点的各帧图像数据的噪声，确定是否重新获取相应温度测试点的温度采样值及各帧图像数据；当确定为否时，基于所述红外摄像装置中各像素点的温度测试点‑像素点的响应均匀性，来确定各像素点是否为死点；采用插值的方式，利用确定为死点周围的像素点的像素值对相应的死点进行校正。本发明能够有效提高了死点校正的准确性。

主权项

1.一种红外摄像装置的死点校正方法，用于包含黑体、红外摄像装置和校正装置所构成的系统，其特征在于，包括：获取预设时长内，所述黑体提供的对应多个温度测试点的温度采样值、以及所述红外摄像装置提供的对应同一温度测试点的至少一帧图像数据；基于各温度测试点的温度采样值、和/或对应各温度测试点的各帧图像数据的噪声，确定是否重新获取相应温度测试点的温度采样值及各帧图像数据；当确定为否时，基于所述红外摄像装置中各像素点的温度测试点‑像素点的响应均匀性，来确定各像素点是否为死点，所述像素点信息至少包括像素值和像素点特征值；采用插值的方式，利用确定为死点周围的像素点的像素值对相应的死点进行校正；其中，所述基于红外摄像装置中各像素点的温度测试点‑像素点的响应均匀性，来确定各像素点是否为死点的方式包括：基于不同温度测试点的同一像素点的像素点信息，计算温度测试点‑像素点的响应曲线的斜率；对各像素点所对应的斜率进行统计，并基于统计结果确定斜率范围之外的斜率所对应的像素点为死点；其中，所述基于各温度测试点的温度采样值，确定是否重新获取相应温度测试点的温度采样值及多帧图像数据的方式包括：统计同一温度测试点的多个温度采样值的温度波动情况，当所统计的温度波动情况在预设的温度容限内，则确定无需重新获取相应温度测试点的温度采样值及多帧图像数据。