[发明专利]一种基于SDD探测器的X射线荧光分析系统在审
申请号: | 201510924378.5 | 申请日: | 2015-12-14 |
公开(公告)号: | CN105352984A | 公开(公告)日: | 2016-02-24 |
发明(设计)人: | 金东东;连剑;李文彬;史钰峰;宋娟;孙书坤 | 申请(专利权)人: | 山东航天电子技术研究所 |
主分类号: | G01N23/223 | 分类号: | G01N23/223 |
代理公司: | 北京理工大学专利中心 11120 | 代理人: | 代丽;仇蕾安 |
地址: | 264670 山*** | 国省代码: | 山东;37 |
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摘要: | 本发明公开了一种基于SDD探测器的X射线荧光分析系统。使用本发明能够有效产生X射线荧光,并对X射线荧光光谱进行分析,且能量分辨率高,噪声低。本发明的X射线荧光分析系统包括荧光产生子系统、SDD探测器和电子学读出子系统,其中,荧光产生子系统采用包括同位素激发源作为X射线源,采用掠入射方法产生荧光;SDD探测器将样品产生X荧光转换成微弱的电信号,电子学读出子系统包括前置放大器、成形放大模块、MCA多道分析仪、高压模块、制冷模块和供电模块,对SDD探测器的电信号进行成形放大,并提取X射线荧光光谱,并为SDD探测器提供反偏工作高压和低温工作环境。 | ||
搜索关键词: | 一种 基于 sdd 探测器 射线 荧光 分析 系统 | ||
【主权项】:
一种基于SDD探测器的X射线荧光分析系统,其特征在于,包括荧光产生子系统、SDD探测器和电子学读出子系统,其中,荧光产生子系统用于产生X射线荧光,包括同位素激发源和样品,其中,同位素激发源出射的X射线与样品表面的夹角小于全反射临界角;SDD探测器位于样品表面正上方,接收样品发出的X射线荧光,并将X射线荧光转换为电信号后输出至电子学读出子系统;电子学读出子系统对SDD探测器的电信号进行成形放大,并提取X射线荧光光谱;其中,电子学读出子系统包括前置放大器、成形放大模块、MCA多道分析仪、高压模块、制冷模块和供电模块;其中,前置放大器与SDD探测器连接,对SDD探测器产生的电信号进行提取放大;成形放大模块与前置放大器连接,对前置放大器的输出信号进行高斯整形和放大;MCA多道分析仪与成形放大模块连接,对成形放大模块输出的高斯信号进行多通道AD采集,提取X射线荧光的能谱分布送至计算机,用于分析;高压模块与SDD探测器连接,为SDD探测器提供反偏工作电压;制冷模块与SDD探测器连接,为SDD探测器提供低温工作环境;供电模块为前置放大器、成形放大模块、高压模块和制冷模块供电。
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