[发明专利]基于双角度多频率条纹投影的三维形貌获取方法及装置

摘要

本发明适用于机器视觉技术领域，提供了一种基于双角度多频率条纹投影的三维形貌获取方法及装置。所述方法包括：通过计算机控制两台投影仪分别投影不同频率的条纹到被测物体的表面上；通过照相机拍摄所述两台投影仪投影的条纹图像；根据拍摄的所述条纹图像计算出各个频率条纹的相位图函数；通过时间相位展开方法对所述相位图函数中的非阴影区域的相位图函数进行相位展开，获得非阴影区域的绝对相位；根据非阴影区域的绝对相位估计阴影区域的绝对相位；根据非阴影区域的绝对相位以及阴影区域的绝对相位计算出被测物体的三维形貌数据。通过本发明，可有效扩大测量范围以及提高测量结果的可靠性。

主权项

1.一种基于双角度多频率条纹投影的三维形貌获取方法，其特征在于，应用于包括两台投影仪、一台照相机以及一台计算机的系统，其中所述照相机的光轴垂直于参考平面，两台投影仪的光轴与所述照相机的光轴处于同一平面且在所述照相机的左右两侧与所述照相机的光轴呈相同夹角，所述方法包括：通过所述计算机控制所述两台投影仪分别投影不同频率的条纹到被测物体的表面上；通过所述照相机拍摄所述两台投影仪投影的条纹图像；根据拍摄的所述条纹图像计算出各个频率条纹的相位图函数；通过时间相位展开方法对所述相位图函数中的非阴影区域的相位图函数进行相位展开，获得非阴影区域的绝对相位；根据非阴影区域的绝对相位估计阴影区域的绝对相位；根据非阴影区域的绝对相位以及阴影区域的绝对相位计算出被测物体的三维形貌数据；所述根据非阴影区域的绝对相位估计阴影区域的绝对相位包括：对于高频率条纹照射到的区域，根据所述绝对相位的单调性以及预设条件估计出阴影区域的绝对相位的条纹阶数范围，再根据各个像素点的相位图函数，估计出阴影区域各个像素点的高频率条纹绝对相位值。