[发明专利]一种用于监测集成电路NBTI老化效应的数字型监测电路

摘要

本发明公开了一种用于监测集成电路NBTI老化效应的数字型监测电路，包括用于产生参考信号的第一传感器、用于产生老化信号的第二传感器、相位偏差比较器、比较电路和输出电路，第一传感器的输出端和比较电路的第一输入端连接，相位偏差比较器的输出端分别与比较电路的第二输入端、比较电路的第三输入端和比较电路的使能端连接，第二传感器的输出端和比较电路的第四输入端连接，比较电路的输出端和输出电路连接，第一传感器采用的VCO电路作为参考电路，第二传感器采用的使用一段时间的VCO电路作为老化产生电路；优点是消除监测器自身存在的老化效应对老化监测结果造成的不良影响，老化监测数据准确度较高。

主权项

一种用于监测集成电路NBTI老化效应的数字型监测电路，其特征在于包括用于产生参考信号的第一传感器、用于产生老化信号的第二传感器、相位偏差比较器、比较电路和输出电路，所述的比较电路具有使能端、第一输入端、第二输入端、第三输入端、第四输入端和输出端，所述的第一传感器的输出端和所述的比较电路的第一输入端连接，所述的相位偏差比较器的输出端分别与所述的比较电路的第二输入端、所述的比较电路的第三输入端和所述的比较电路的使能端连接，所述的第二传感器的输出端和所述的比较电路的第四输入端连接，所述的比较电路的输出端和所述的输出电路连接，所述的第一传感器和所述的第二传感器采用电路结构完全相同的两个VCO电路来实现；所述的第一传感器采用的VCO电路为制作完成后未使用的VCO电路，所述的第二传感器采用的VCO电路为制作完成后接入工作电压使用一段时间后的VCO电路；所述的第一传感器实时感应集成电路的老化状况并生成老化参考数据输送给所述的比较电路，所述的第二传感器实时感应集成电路的老化状况并生成老化监测数据发送给所述的比较电路，所述的比较电路对老化参考数据和老化监测数据进行比较，得到集成电路的实时老化数据，该实时老化数据通过所述的输出电路输出。