[发明专利]提取本振的相位噪声的方法在审

专利信息
申请号: 201510927196.3 申请日: 2015-12-11
公开(公告)号: CN106877949A 公开(公告)日: 2017-06-20
发明(设计)人: 陈文杰 申请(专利权)人: 联芯科技有限公司;大唐半导体设计有限公司
主分类号: H04B17/309 分类号: H04B17/309
代理公司: 上海思微知识产权代理事务所(普通合伙)31237 代理人: 曹廷廷
地址: 200233 上海*** 国省代码: 上海;31
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明提供了一种提取本振的相位噪声的方法,根据发射机的输入信号及发射机的本振信号得到发射机的输出信号;根据发射机的输出信号作为与所述发射机输出端连接的采集仪表的输入信号;根据所述采集仪表的输入信号设置采集仪表的本振频率,以使采集仪表直接采集发射机的时域本振波形;根据所述采集仪表的输出信号提取发射机的本振的相位噪声。由于使用采集仪表采集的是发射机输出的时域本振波形,整个过程均在时域完成,因此,可实时反映本振真实的相位噪声情况,适用于非稳态及存在突发扰动下的情况,提高了提取相位噪声的精准度。
搜索关键词: 提取 相位 噪声 方法
【主权项】:
一种提取本振的相位噪声的方法,其特征在于,包括如下步骤:根据发射机的输入信号及发射机的本振信号得到所述发射机的输出信号;将所述发射机的输出信号作为与所述发射机输出端连接的采集仪表的输入信号;根据所述采集仪表的输入信号设置所述采集仪表的本振频率,以使所述采集仪表直接采集所述发射机的时域本振波形;根据所述采集仪表的输出信号提取所述发射机的本振的相位噪声。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于联芯科技有限公司;大唐半导体设计有限公司,未经联芯科技有限公司;大唐半导体设计有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201510927196.3/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top