[发明专利]一种检测微孔膜耐压性能的方法在审

专利信息
申请号: 201510927290.9 申请日: 2015-12-14
公开(公告)号: CN105466777A 公开(公告)日: 2016-04-06
发明(设计)人: 吴桐;惠志锋 申请(专利权)人: 成都慧成科技有限责任公司
主分类号: G01N3/08 分类号: G01N3/08;G01N5/02;G01N15/08
代理公司: 成都九鼎天元知识产权代理有限公司 51214 代理人: 房云;钟莹洁
地址: 610000 四川省成都市高新*** 国省代码: 四川;51
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明公开了一种检测微孔膜耐压性能的方法,所述方法将微孔膜制作成压缩测试标准样品并利用压缩测试获得压头以及微孔膜的应力-位移曲线;均匀地选取不同的点绘制出微孔膜的应力-应变曲线;在不同的压力下测试样品的压缩回复率并获得样品的压缩回复率-应力曲线并进一步测试、计算并绘制压缩后样品的吸液率-应力曲线或孔隙率-应力曲线。本发明的方法可以快速、准确地评价锂电池隔膜、反渗透膜等各种微孔膜在压力状态下的使用性能,对微孔膜材料的制备和选择提供理论指导。
搜索关键词: 一种 检测 微孔 耐压 性能 方法
【主权项】:
一种检测微孔膜耐压性能的方法,其特征在于,所述方法包括以下步骤:A、获得应力‑位移曲线:在空载状态下进行压缩测试得到压头的应力‑位移曲线并作为背景曲线,在0.1~10 mm/min的压缩速率条件下对微孔膜标准压缩样品进行压缩测试得到微孔膜的应力‑位移曲线;B、获得应力‑应变曲线:在所述微孔膜的应力‑位移曲线中均匀选取多个点并读取所述多个点的应力值和第一位移值,再读取所述多个点的应力值对应于所述背景曲线中的第二位移值,利用所述多个点的第一位移值和第二位移值的差值与所述微孔膜标准压缩样品的初始厚度值之比得到的真实应变值绘制得到微孔膜的应力‑应变曲线;C、获得压缩回复率‑应力曲线:在不同应力条件下对所述微孔膜标准压缩样品进行压缩测试,计算微孔膜的弹性回复率并绘制得到微孔膜的压缩回复率‑应力曲线;D、获得压缩后微孔膜的吸液率‑应力曲线或孔隙率‑应力曲线:对步骤C中不同应力条件下压缩后的微孔膜标准压缩样品进行吸液率测试或孔隙率测试,根据所得吸液率或孔隙率绘制得到压缩后微孔膜的吸液率‑应力曲线或孔隙率‑应力曲线。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于成都慧成科技有限责任公司,未经成都慧成科技有限责任公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201510927290.9/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top