[发明专利]一种检测微孔膜耐压性能的方法在审
申请号: | 201510927290.9 | 申请日: | 2015-12-14 |
公开(公告)号: | CN105466777A | 公开(公告)日: | 2016-04-06 |
发明(设计)人: | 吴桐;惠志锋 | 申请(专利权)人: | 成都慧成科技有限责任公司 |
主分类号: | G01N3/08 | 分类号: | G01N3/08;G01N5/02;G01N15/08 |
代理公司: | 成都九鼎天元知识产权代理有限公司 51214 | 代理人: | 房云;钟莹洁 |
地址: | 610000 四川省成都市高新*** | 国省代码: | 四川;51 |
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摘要: | 本发明公开了一种检测微孔膜耐压性能的方法,所述方法将微孔膜制作成压缩测试标准样品并利用压缩测试获得压头以及微孔膜的应力-位移曲线;均匀地选取不同的点绘制出微孔膜的应力-应变曲线;在不同的压力下测试样品的压缩回复率并获得样品的压缩回复率-应力曲线并进一步测试、计算并绘制压缩后样品的吸液率-应力曲线或孔隙率-应力曲线。本发明的方法可以快速、准确地评价锂电池隔膜、反渗透膜等各种微孔膜在压力状态下的使用性能,对微孔膜材料的制备和选择提供理论指导。 | ||
搜索关键词: | 一种 检测 微孔 耐压 性能 方法 | ||
【主权项】:
一种检测微孔膜耐压性能的方法,其特征在于,所述方法包括以下步骤:A、获得应力‑位移曲线:在空载状态下进行压缩测试得到压头的应力‑位移曲线并作为背景曲线,在0.1~10 mm/min的压缩速率条件下对微孔膜标准压缩样品进行压缩测试得到微孔膜的应力‑位移曲线;B、获得应力‑应变曲线:在所述微孔膜的应力‑位移曲线中均匀选取多个点并读取所述多个点的应力值和第一位移值,再读取所述多个点的应力值对应于所述背景曲线中的第二位移值,利用所述多个点的第一位移值和第二位移值的差值与所述微孔膜标准压缩样品的初始厚度值之比得到的真实应变值绘制得到微孔膜的应力‑应变曲线;C、获得压缩回复率‑应力曲线:在不同应力条件下对所述微孔膜标准压缩样品进行压缩测试,计算微孔膜的弹性回复率并绘制得到微孔膜的压缩回复率‑应力曲线;D、获得压缩后微孔膜的吸液率‑应力曲线或孔隙率‑应力曲线:对步骤C中不同应力条件下压缩后的微孔膜标准压缩样品进行吸液率测试或孔隙率测试,根据所得吸液率或孔隙率绘制得到压缩后微孔膜的吸液率‑应力曲线或孔隙率‑应力曲线。
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