[发明专利]一种低暗电流铟镓砷探测器及其制备方法在审

专利信息
申请号: 201510928646.0 申请日: 2015-12-15
公开(公告)号: CN105405913A 公开(公告)日: 2016-03-16
发明(设计)人: 胡双元 申请(专利权)人: 苏州矩阵光电有限公司
主分类号: H01L31/10 分类号: H01L31/10;H01L31/0304;H01L31/18
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 215614 江苏省苏州市张家*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明所述的一种低暗电流铟镓砷探测器,包括层叠设置的第二电极、N型InP衬底和本征InP缓冲层,所述InP缓冲层上直接形成有InGaAs光敏层,所述InGaAs光敏层上层叠设置有InP帽层和通过外延方式生长的钝化层,所述InP帽层面积小于或等于所述InGaAs光敏层的面积;所述钝化层中开设有暴露所述InP帽层部分区域的通孔,沿所述通孔内侧壁形成环形第一电极。通过外延方式制备的钝化层,其成膜质量远远高于传统工艺所制备的钝化层,可以大大降低铟镓砷探测器的暗电流,提高灵敏度。
搜索关键词: 一种 电流 铟镓砷 探测器 及其 制备 方法
【主权项】:
一种低暗电流铟镓砷探测器,其特征在于,包括层叠设置的第二电极(8)、N型InP衬底(1)和本征InP缓冲层(2),所述InP缓冲层(2)上直接形成有InGaAs光敏层(3),所述InGaAs光敏层(3)上层叠设置有InP帽层(4)和通过外延方式生长的钝化层(5),所述InP帽层面积小于或等于所述InGaAs光敏层的面积;所述钝化层(5)中开设有暴露所述InP帽层部分区域的通孔,沿所述通孔内侧壁形成环形第一电极(6)。
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