[发明专利]一种低暗电流铟镓砷探测器及其制备方法在审
申请号: | 201510928646.0 | 申请日: | 2015-12-15 |
公开(公告)号: | CN105405913A | 公开(公告)日: | 2016-03-16 |
发明(设计)人: | 胡双元 | 申请(专利权)人: | 苏州矩阵光电有限公司 |
主分类号: | H01L31/10 | 分类号: | H01L31/10;H01L31/0304;H01L31/18 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 215614 江苏省苏州市张家*** | 国省代码: | 江苏;32 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明所述的一种低暗电流铟镓砷探测器,包括层叠设置的第二电极、N型InP衬底和本征InP缓冲层,所述InP缓冲层上直接形成有InGaAs光敏层,所述InGaAs光敏层上层叠设置有InP帽层和通过外延方式生长的钝化层,所述InP帽层面积小于或等于所述InGaAs光敏层的面积;所述钝化层中开设有暴露所述InP帽层部分区域的通孔,沿所述通孔内侧壁形成环形第一电极。通过外延方式制备的钝化层,其成膜质量远远高于传统工艺所制备的钝化层,可以大大降低铟镓砷探测器的暗电流,提高灵敏度。 | ||
搜索关键词: | 一种 电流 铟镓砷 探测器 及其 制备 方法 | ||
【主权项】:
一种低暗电流铟镓砷探测器,其特征在于,包括层叠设置的第二电极(8)、N型InP衬底(1)和本征InP缓冲层(2),所述InP缓冲层(2)上直接形成有InGaAs光敏层(3),所述InGaAs光敏层(3)上层叠设置有InP帽层(4)和通过外延方式生长的钝化层(5),所述InP帽层面积小于或等于所述InGaAs光敏层的面积;所述钝化层(5)中开设有暴露所述InP帽层部分区域的通孔,沿所述通孔内侧壁形成环形第一电极(6)。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于苏州矩阵光电有限公司,未经苏州矩阵光电有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201510928646.0/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:光学构件、固态成像装置及其制造方法
- 下一篇:机床切削液专用离心机
- 同类专利
- 专利分类
H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的