[发明专利]太赫兹波测量装置、测量方法以及测量仪器有效
| 申请号： | 201510930890.0 | 申请日： | 2015-12-15 |
| 公开（公告）号： | CN105699315B | 公开（公告）日： | 2019-12-03 |
| 发明（设计）人： | 内田裕久 | 申请（专利权）人： | 爱科来株式会社 |
| 主分类号： | G01N21/3581 | 分类号： | G01N21/3581 |
| 代理公司： | 11127 北京三友知识产权代理有限公司 | 代理人： | 吕俊刚;杨薇<国际申请>=<国际公布>= |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 太赫兹波测量装置、测量方法以及测量仪器。提供了一种太赫兹波测量装置，该太赫兹波测量装置包括：(1)太赫兹波产生元件，该太赫兹波产生元件基于入射到所述太赫兹波产生元件的激发光通过差频生成产生太赫兹波，激发光包括多个不同波长分量并且被汇聚以便具有预定大小的光束直径；(2)结构体，太赫兹波透射通过该结构体；以及(3)检测器，该检测器检测已透射通过结构体的太赫兹波的强度，其中，结构体包括保持样品的预定宽度的样品架，并且该结构体与太赫兹波产生元件紧密接触或者相接合。 | ||
| 搜索关键词： | 赫兹 测量 装置 测量方法 以及 仪器 | ||
【主权项】：
1.一种太赫兹波测量装置，所述太赫兹波测量装置包括：/n太赫兹波产生元件，所述太赫兹波产生元件基于被入射到所述太赫兹波产生元件的激发光通过差频生成产生太赫兹波，所述激发光包括多个不同波长分量并且被汇聚以便具有预定大小的光束直径；/n结构体，所述太赫兹波透射通过所述结构体；以及/n检测器，所述检测器检测已透射通过所述结构体的所述太赫兹波的强度，/n其中，所述结构体包括保持样品的预定宽度的样品架，并且所述结构体与所述太赫兹波产生元件紧密接触或者形成为具有一定间隙的接合，并且其中，/n所述激发光的所述光束直径的所述预定大小小于将要产生的太赫兹波的波长。/n
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