[发明专利]一种频谱分析仪的校准方法有效
| 申请号： | 201510932750.7 | 申请日： | 2015-12-15 |
| 公开（公告）号： | CN106886002B | 公开（公告）日： | 2020-10-27 |
| 发明（设计）人： | 张弘;王悦;王铁军;李维森 | 申请（专利权）人： | 普源精电科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R35/00 | 分类号： | G01R35/00 |
| 代理公司： | 北京三友知识产权代理有限公司 11127 | 代理人： | 汤在彦 |
| 地址： | 215163 *** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种频谱分析仪的校准方法，包括：确定中频通道电路需校准的频率点；利用每个校准频率点对应的频率，确定每个校准频率点对应的第一本振信号的扫频频率和数控振荡器的扫频频率；每一次校准时，设置第一本振的工作频率和数控振荡器的工作频率；每个校准频率点对应的校准信号依此经过射频前端、中频通道电路、采样之后，输入至所述数控振荡器，经数控振荡器混频处理，将每个校准信号变频至零中频；对每个校准信号对应的零中频信号处理获得校准信号的测量幅度；每个校准信号的测量幅度与实际幅度比较，获得中频通道电路在对应频率点的频率响应；利用中频通道电路在对应频率点的频率响应实现频谱分析仪的校准。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 频谱 分析 校准 方法 | ||
【主权项】：
一种频谱分析仪的校准方法，其特征在于，包括：确定中频通道电路需校准的频率点；利用每个校准频率点对应的频率，确定每个校准频率点对应的第一本振信号的扫频频率和数控振荡器的扫频频率；每一次校准时，根据每个校准频率点对应的第一本振信号的扫频频率和所述频谱分析仪的数控振荡器的扫频频率，设置第一本振的工作频率和数控振荡器的工作频率；每个校准频率点对应的校准信号依次经过射频前端、中频通道电路、采样之后，输入至所述数控振荡器，经所述数控振荡器混频处理，将每个校准信号变频成零中频信号；所述频谱分析仪利用每个校准信号对应的零中频信号获得相应校准信号的测量幅度；每个校准信号的测量幅度与实际幅度比较，获得每个校准信号的差值，该差值为中频通道电路在对应频率点的频率响应；利用中频通道电路在对应频率点的频率响应实现频谱分析仪的校准。
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