[发明专利]EMMC测试装置在审

专利信息
申请号: 201510932846.3 申请日: 2015-12-15
公开(公告)号: CN105390163A 公开(公告)日: 2016-03-09
发明(设计)人: 孙日欣;李振华;王天益 申请(专利权)人: 深圳佰维存储科技股份有限公司
主分类号: G11C29/56 分类号: G11C29/56
代理公司: 深圳市博锐专利事务所 44275 代理人: 张明
地址: 518055 广东省深圳市南山区桃*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明公开了一种EMMC测试装置,包括测试座、第一连接板、第二连接板、第一公连接器、第二公连接器、第一母连接器、第二母连接器和测试终端,所述测试座上设有用于放置待测试EMMC的容纳槽,所述第一连接板的一面用于与所述容纳槽内的待测试EMMC电连接,所述第一连接板的另一面分别与第一公连接器和第二公连接器电连接,所述第二连接板的一面与所述测试终端电连接,所述第二连接板的另一面分别与所述第一母连接器和第二母连接器电连接,第一母连接器插接在第一公连接器上,第二母连接器插接在第二公连接器上。本发明提供的EMMC测试装置,不仅对EMMC无损,而且操作简单方便,测试效率高。
搜索关键词: emmc 测试 装置
【主权项】:
1.一种EMMC测试装置,其特征在于,包括测试座、第一连接板、第二连接板、第一公连接器、第二公连接器、第一母连接器、第二母连接器和测试终端,所述测试座上设有用于放置待测试EMMC的容纳槽,所述第一连接板的一面用于与所述容纳槽内的待测试EMMC电连接,第一连接板的另一面分别与第一公连接器和第二公连接器电连接,所述第二连接板的一面与所述测试终端电连接,所述第二连接板的另一面分别与所述第一母连接器和第二母连接器电连接,第一母连接器插接在第一公连接器上,第二母连接器插接在第二公连接器上;所述测试座包括底座、端盖和两个以上测试探针,所述容纳槽设于所述底座上,所述底座上设有两个以上通孔,所述通孔位于所述容纳槽下方,所述测试探针设于所述通孔中,测试探针的一端用于与所述容纳槽内的待测试EMMC电连接,测试探针的另一端与所述第一连接板电连接,所述端盖铰接在所述底座上。
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