[发明专利]一种日冕仪平场测量和光强标定的装置与方法有效

专利信息
申请号: 201510933367.3 申请日: 2015-12-15
公开(公告)号: CN105571827B 公开(公告)日: 2017-12-12
发明(设计)人: 白先勇;刘四清;龚建村;王怡然;崔延美 申请(专利权)人: 中国科学院国家空间科学中心
主分类号: G01M11/02 分类号: G01M11/02
代理公司: 北京方安思达知识产权代理有限公司11472 代理人: 王宇杨,刘振
地址: 100190 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明涉及一种日冕仪平场测量和光强标定的装置,包括乳白玻璃、衰减片、日冕仪、滤光系统、探测器、图像采集系统;其中,该装置以天然面光源太阳作为光源,来自太阳的光经所述乳白玻璃扩散成大角度光源;所述大角度光源的光经所述衰减片调节入射光强度后进入日冕仪,由所述日冕仪的视场光阑选择视场,形成均匀的面光源;所述滤光系统对所述面光源发射的光进行波长选择,特定波长的光经探测器、图像采集系统采集后存储。本发明的装置在平场测量的同时可以兼顾光强标定,具备低成本、操作简便、多功能的优点。
搜索关键词: 一种 日冕 仪平场 测量 标定 装置 方法
【主权项】:
一种日冕仪平场测量和光强标定的装置,其特征在于,包括:乳白玻璃(2)、衰减片(3)、日冕仪(4)、滤光系统(5)、探测器(6)、图像采集系统(7);其中,该装置以天然面光源太阳作为光源,来自太阳的光经所述乳白玻璃(2)扩散成大角度光源;所述大角度光源的光经所述衰减片(3)调节入射光强度后进入日冕仪(4),由所述日冕仪(4)的视场光阑选择视场,形成均匀的面光源;所述滤光系统(5)对所述面光源发射的光进行波长选择,特定波长的光经探测器(6)、图像采集系统(7)采集后存储。
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