[发明专利]一种轴向多孔道介质自动透光检测系统及方法在审

专利信息
申请号: 201510934490.7 申请日: 2015-12-15
公开(公告)号: CN105537149A 公开(公告)日: 2016-05-04
发明(设计)人: 胡友民 申请(专利权)人: 华中科技大学无锡研究院
主分类号: B07C5/342 分类号: B07C5/342
代理公司: 北京品源专利代理有限公司 11332 代理人: 孟金喆;胡彬
地址: 214174 江苏省无锡市*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明公开一种轴向多孔道介质自动透光检测系统及方法,该系统包括:物流输送子系统,用于:一、抓取待进行光学检测的轴向多孔道介质样品,并将其输送至检测位置;二、根据检测结果,对轴向多孔道介质样品进行剔除或转移;LED光学成像采集子系统,用于利用LED平面光源对轴向多孔道介质样品进行轴向打光,并利用CCD工业相机对经轴向多孔道介质孔道的成像进行图像采集;图像处理分析子系统,用于进行图像处理及特征提取,对轴向多孔道介质样品的透光情况进行判断,并将处理结果进行显示。本发明可实现轴向多孔道介质透光性的自动化检测,检测的准确率和效率高,无需人工参与,适用于轴向多孔道介质自动化生产线的产品质量检测工位。
搜索关键词: 一种 轴向 多孔 介质 自动 透光 检测 系统 方法
【主权项】:
一种轴向多孔道介质自动透光检测系统,其特征在于,包括物流输送子系统、LED光学成像采集子系统及图像处理分析子系统;所述物流输送子系统用于:一、抓取待进行光学检测的轴向多孔道介质样品,并将其输送至检测位置;二、根据该透光检测系统的检测结果,对轴向多孔道介质样品进行剔除或转移;所述LED光学成像采集子系统用于利用LED平面光源对轴向多孔道介质样品进行轴向打光,并利用CCD工业相机对经轴向多孔道介质孔道的成像进行图像采集;所述图像处理分析子系统用于进行图像处理及特征提取,对轴向多孔道介质样品的透光情况进行判断,并将处理结果进行显示。
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