[发明专利]一种轴向多孔道介质自动透光检测系统及方法在审
申请号: | 201510934490.7 | 申请日: | 2015-12-15 |
公开(公告)号: | CN105537149A | 公开(公告)日: | 2016-05-04 |
发明(设计)人: | 胡友民 | 申请(专利权)人: | 华中科技大学无锡研究院 |
主分类号: | B07C5/342 | 分类号: | B07C5/342 |
代理公司: | 北京品源专利代理有限公司 11332 | 代理人: | 孟金喆;胡彬 |
地址: | 214174 江苏省无锡市*** | 国省代码: | 江苏;32 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明公开一种轴向多孔道介质自动透光检测系统及方法,该系统包括:物流输送子系统,用于:一、抓取待进行光学检测的轴向多孔道介质样品,并将其输送至检测位置;二、根据检测结果,对轴向多孔道介质样品进行剔除或转移;LED光学成像采集子系统,用于利用LED平面光源对轴向多孔道介质样品进行轴向打光,并利用CCD工业相机对经轴向多孔道介质孔道的成像进行图像采集;图像处理分析子系统,用于进行图像处理及特征提取,对轴向多孔道介质样品的透光情况进行判断,并将处理结果进行显示。本发明可实现轴向多孔道介质透光性的自动化检测,检测的准确率和效率高,无需人工参与,适用于轴向多孔道介质自动化生产线的产品质量检测工位。 | ||
搜索关键词: | 一种 轴向 多孔 介质 自动 透光 检测 系统 方法 | ||
【主权项】:
一种轴向多孔道介质自动透光检测系统,其特征在于,包括物流输送子系统、LED光学成像采集子系统及图像处理分析子系统;所述物流输送子系统用于:一、抓取待进行光学检测的轴向多孔道介质样品,并将其输送至检测位置;二、根据该透光检测系统的检测结果,对轴向多孔道介质样品进行剔除或转移;所述LED光学成像采集子系统用于利用LED平面光源对轴向多孔道介质样品进行轴向打光,并利用CCD工业相机对经轴向多孔道介质孔道的成像进行图像采集;所述图像处理分析子系统用于进行图像处理及特征提取,对轴向多孔道介质样品的透光情况进行判断,并将处理结果进行显示。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于华中科技大学无锡研究院,未经华中科技大学无锡研究院许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201510934490.7/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:移动敞口容器自动清洗系统
- 下一篇:一种塑料托盘机械强度检测系统