[发明专利]一种数据采集测试方法和装置有效

专利信息
申请号: 201510938609.8 申请日: 2015-12-15
公开(公告)号: CN105391602B 公开(公告)日: 2019-02-26
发明(设计)人: 李宠波 申请(专利权)人: 北京奇虎科技有限公司;奇智软件(北京)有限公司
主分类号: H04L12/26 分类号: H04L12/26;H04L29/08
代理公司: 北京润泽恒知识产权代理有限公司 11319 代理人: 苏培华
地址: 100088 北京市西城区新*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明实施例提供了一种数据采集测试方法和装置,该方法包括:接收上传的参数信息,其中,所述参数信息为应用运行时针对各采集参数采集得到的;从所述参数信息中查找存储参数对应存储信息;依据所述存储信息检测数据质量,确定质量校验结果。本发明实施例通过从参数信息中提取存储参数对应的存储信息,依据存储信息进行数据质量的检测,判断出上传的参数信息是否为造假的数据,即确定质量校验结果,从而可以避免采用造假的采集数据,保证数据采集的准确性,从而提高数据采集的准确度。
搜索关键词: 一种 数据 采集 测试 方法 装置
【主权项】:
1.一种数据采集测试方法,包括:接收上传的参数信息,其中,所述参数信息为应用运行时针对各采集参数采集得到的,具体地,所述参数信息包括存储信息和采集参数对应的信息;从所述参数信息中查找存储参数对应存储信息,所述存储参数包括:安全数字存储SD卡参数,所述存储参数对应存储信息包括:SD卡信息;依据所述存储信息检测数据质量,确定质量校验结果,具体地,包括:依据所述SD卡信息查找至少一个终端标识;所述终端标识包括由所述采集参数对应的信息计算出的SD卡标识;采用所述SD卡标识检测数据质量,确定质量校验结果;所述采用所述SD卡标识检测数据质量,确定质量校验结果的步骤,包括:当所述SD卡信息对应一个SD卡标识,生成质量合格的质量校验结果;当所述SD卡信息对应多于一个SD卡标识,生成数据异常的质量校验结果。
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